最全的硬件测试5个流程图文详解 少一个都寸步难行

硬件

最全的硬件(jian)(jian)测(ce)试(shi)5个流程图文详(xiang)解，硬件(jian)(jian)（英文名Hardware）是计(ji)(ji)算(suan)(suan)机(ji)硬件(jian)(jian)的简(jian)称(cheng)（中国(guo)大陆及香港(gang)用(yong)语，台(tai)湾叫作:硬体），是指(zhi)计(ji)(ji)算(suan)(suan)机(ji)系统中由电(dian)子(zi)，机(ji)械和光电(dian)元(yuan)件(jian)(jian)等(deng)组成(cheng)(cheng)的各(ge)种物(wu)(wu)理装置(zhi)(zhi)的总称(cheng)。这(zhei)些(xie)物(wu)(wu)理装置(zhi)(zhi)按(an)系统结构(gou)的要(yao)求构(gou)成(cheng)(cheng)一个有机(ji)整体为计(ji)(ji)算(suan)(suan)机(ji)软件(jian)(jian)运(yun)行提供物(wu)(wu)质基础(chu)。

简而言之，硬件的功(gong)能是输入(ru)并存(cun)储程序和数(shu)据，以及执行程序把数(shu)据加工成(cheng)可以利用的形式。从外(wai)观上来看，微机由主(zhu)(zhu)机箱和外(wai)部(bu)设备组成(cheng)。主(zhu)(zhu)机箱内主(zhu)(zhu)要(yao)包括CPU、内存(cun)、主(zhu)(zhu)板、硬盘驱动器、光盘驱动器、各种扩展卡、连接线、电源等；外(wai)部(bu)设备包括鼠标、键(jian)盘等。

硬件的基本部件

计算机(ji)由运算器、控制器、存(cun)储器、输入设备(bei)和输出设备(bei)等五个逻辑部件组成(cheng)。

通电前硬件检测

当(dang)一(yi)个电(dian)(dian)路板焊接(jie)完后(hou)，在(zai)检查电(dian)(dian)路板是否(fou)可以正常(chang)工(gong)作(zuo)时，通常(chang)不(bu)直接(jie)给(ji)电(dian)(dian)路板供电(dian)(dian)，而是要按下面的步(bu)骤进(jin)行，确保每一(yi)步(bu)都没有(you)问题后(hou)再上电(dian)(dian)也不(bu)迟。

1、连线(xian)是(shi)否正确(que)(que)。检查(cha)原(yuan)(yuan)理图(tu)很关(guan)键，第一个检查(cha)的重(zhong)点(dian)是(shi)芯片的电源和(he)网络节点(dian)的标注是(shi)否正确(que)(que)，同时(shi)也要注意网络节点(dian)是(shi)否有重(zhong)叠的现象(xiang)。另(ling)一个重(zhong)点(dian)是(shi)原(yuan)(yuan)件的封(feng)装(zhuang)(zhuang)，封(feng)装(zhuang)(zhuang)的型号，封(feng)装(zhuang)(zhuang)的引脚(jiao)顺(shun)序；封(feng)装(zhuang)(zhuang)不能采用顶视图(tu)，切记！特别是(shi)对于非插针的封(feng)装(zhuang)(zhuang)。检查(cha)连线(xian)是(shi)否正确(que)(que)，包括错线(xian)、少线(xian)和(he)多线(xian)。

查线(xian)的方法通常有(you)两(liang)种：1）按(an)(an)照电(dian)路(lu)(lu)图检查安(an)装的线(xian)路(lu)(lu)，根(gen)据电(dian)路(lu)(lu)连(lian)线(xian)，按(an)(an)照一定(ding)的顺序逐一检查安(an)装好(hao)的线(xian)路(lu)(lu)；2）按(an)(an)照实际线(xian)路(lu)(lu)对(dui)照原理图进行(xing)(xing)，一元件为(wei)中心进行(xing)(xing)查线(xian)。把(ba)每个元件引(yin)(yin)脚(jiao)的连(lian)线(xian)一次查清(qing)，检查每个去处在(zai)电(dian)路(lu)(lu)图上(shang)是(shi)否存在(zai)。为(wei)了(le)防止(zhi)出(chu)错，对(dui)于(yu)已查过的线(xian)通常应在(zai)电(dian)路(lu)(lu)图上(shang)做出(chu)标记，最(zui)好(hao)用指针万用表欧姆挡的蜂鸣器(qi)测(ce)试，直接测(ce)量元器(qi)件引(yin)(yin)脚(jiao)，这(zhei)样可以同时发(fa)现接线(xian)不良(liang)的地(di)方。

2、电(dian)(dian)(dian)源是否短路。调(diao)试之(zhi)前不上(shang)(shang)电(dian)(dian)(dian)，用(yong)(yong)万用(yong)(yong)表测量(liang)一下电(dian)(dian)(dian)源的(de)输(shu)入阻(zu)(zu)抗，这是必须的(de)步骤！如果电(dian)(dian)(dian)源短路，会造成(cheng)电(dian)(dian)(dian)源烧坏或者更严重的(de)后(hou)果。在(zai)涉及(ji)电(dian)(dian)(dian)源部(bu)分时，可以(yi)用(yong)(yong)一个0欧姆的(de)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)作为调(diao)试方法。上(shang)(shang)电(dian)(dian)(dian)前先(xian)不要焊(han)接(jie)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，检(jian)查电(dian)(dian)(dian)源的(de)电(dian)(dian)(dian)压正(zheng)常(chang)后(hou)再将电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)焊(han)接(jie)在(zai)PCB上(shang)(shang)给后(hou)面的(de)单元供电(dian)(dian)(dian)，以(yi)免造成(cheng)上(shang)(shang)电(dian)(dian)(dian)由于电(dian)(dian)(dian)源的(de)电(dian)(dian)(dian)压不正(zheng)常(chang)而烧毁后(hou)面单元的(de)芯(xin)片。电(dian)(dian)(dian)路设计中增加保(bao)护电(dian)(dian)(dian)路，比(bi)如使用(yong)(yong)恢复保(bao)险丝等元件。

3、元器件安装情(qing)况(kuang)。主要是检查(cha)有(you)极(ji)(ji)性的(de)元器件，如发(fa)光(guang)二极(ji)(ji)管(guan)(guan)，电解电容(rong)，整流(liu)二极(ji)(ji)管(guan)(guan)等(deng)，以及三极(ji)(ji)管(guan)(guan)的(de)管(guan)(guan)脚是否(fou)对应(ying)。对于(yu)三极(ji)(ji)管(guan)(guan)，同(tong)一功(gong)能的(de)不(bu)同(tong)厂家(jia)器管(guan)(guan)脚排(pai)序也是不(bu)同(tong)，最(zui)好(hao)用万(wan)用表测试一下。

先(xian)做开路、短路测试，以(yi)保证上(shang)电后(hou)不(bu)会出现短路现象。如果测试点设置好(hao)的话(hua)，可以(yi)事半功倍。0欧(ou)姆(mu)电阻的使(shi)用(yong)有时也有利于高(gao)速电路测试。

在以上未通电前的硬件检(jian)测做完了以后(hou)，才能开始通电检(jian)测。

通电检测

1、通电观察：通电后(hou)不要急(ji)于测量电气(qi)指标，而(er)要观察电路(lu)有无异常现象(xiang)(xiang)，例如(ru)有无冒烟现象(xiang)(xiang)，有无异常气(qi)味，手摸集(ji)成电路(lu)外封装，是否发烫等。如(ru)果出(chu)现异常现象(xiang)(xiang)，应(ying)立(li)即关断电源，待排(pai)除故障后(hou)再通电。

2、静态(tai)调试(shi)：静态(tai)调试(shi)一般(ban)是指在不加输入信号，或(huo)只加固定的(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)平(ping)信号的(de)条件(jian)下所进行的(de)直流(liu)测试(shi)，可用万用表(biao)测出(chu)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)中各点的(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)位，通过和理论估(gu)算值(zhi)比(bi)较，结合(he)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)原理的(de)分析，判(pan)断(duan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)直流(liu)工作状态(tai)是否正(zheng)常，及时(shi)发(fa)现(xian)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)中已损(sun)坏或(huo)处于临(lin)界工作状态(tai)的(de)元器(qi)件(jian)。通过更换器(qi)件(jian)或(huo)调整电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)参数，使电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)直流(liu)工作状态(tai)符合(he)设计要求(qiu)。

3、动态(tai)调(diao)试(shi)：动态(tai)调(diao)试(shi)是在静态(tai)调(diao)试(shi)的基础(chu)上进行的，在电路的输入端加入合(he)适的信(xin)号(hao)，按信(xin)号(hao)的流向，顺序(xu)检(jian)测(ce)各(ge)测(ce)试(shi)点的输出信(xin)号(hao)，若发(fa)现不正常现象，应分析其原因，并(bing)排除故障，再(zai)进行调(diao)试(shi)，直到满足要求。

测试过(guo)程中不(bu)能凭感觉，要始终借(jie)助仪(yi)器观察。使用示(shi)波器时(shi)，最好把示(shi)波器的信号(hao)输入(ru)方(fang)(fang)式置于“DC”挡(dang)，通过(guo)直(zhi)流(liu)耦合方(fang)(fang)式，可(ke)同时(shi)观察被测信号(hao)的交、直(zhi)流(liu)成分。通过(guo)调试，最后(hou)检查功(gong)能块和整机(ji)的各种(zhong)指标(如信号(hao)的幅值、波形形状、相位(wei)关(guan)系、增益、输入(ru)阻抗和输出(chu)阻抗等)是否(fou)满足设计要求，如必要，再进一步对电路参数提(ti)出(chu)合理的修正。

电子电路调试中其他工作

1、确定(ding)测试(shi)点：根据待调(diao)系统的工作原理拟定(ding)调(diao)试(shi)步骤和测量方法(fa)，确定(ding)测试(shi)点，并在图纸上和板子上标出位置，制作调(diao)试(shi)数据记(ji)录表格等。

2、搭设(she)调试(shi)工作(zuo)(zuo)台：工作(zuo)(zuo)台配备(bei)所需的(de)调试(shi)仪(yi)器(qi)，仪(yi)器(qi)的(de)摆设(she)应(ying)操作(zuo)(zuo)方便，便于观察。特别提示：在制作(zuo)(zuo)和调试(shi)时，一定要把工作(zuo)(zuo)台布置的(de)干净(jing)、整洁(jie)。

3、选(xuan)择测(ce)量仪表(biao)：对于(yu)硬件(jian)电路(lu)，应是(shi)被(bei)调(diao)(diao)系统(tong)选(xuan)择测(ce)量仪表(biao)，测(ce)量仪表(biao)的精度(du)应优于(yu)被(bei)测(ce)系统(tong)；对于(yu)软(ruan)件(jian)调(diao)(diao)试，则应配备微(wei)机和开发装(zhuang)置。

4、调(diao)试顺(shun)(shun)序(xu)：电子电路(lu)的调(diao)试顺(shun)(shun)序(xu)一(yi)般按信号流向(xiang)进(jin)行，将前面(mian)调(diao)试过的电路(lu)输(shu)出信号作为(wei)后(hou)一(yi)级(ji)的输(shu)入信号，为(wei)最后(hou)统调(diao)创造(zao)条件。

5、总体调(diao)(diao)试(shi)(shi)：选用可(ke)编程(cheng)(cheng)逻辑(ji)器件(jian)实现的(de)数(shu)字电路，应完成(cheng)可(ke)编程(cheng)(cheng)逻辑(ji)器件(jian)源文(wen)件(jian)的(de)输入、调(diao)(diao)试(shi)(shi)与下载，并将可(ke)编程(cheng)(cheng)逻辑(ji)器件(jian)和模拟电路连接成(cheng)系统，进行(xing)总体调(diao)(diao)试(shi)(shi)和结果测(ce)试(shi)(shi)。

在调试过程中，要(yao)认真观(guan)察和(he)分析实(shi)验现象(xiang)，做(zuo)好记录(lu)，以(yi)确保实(shi)验数据的完(wan)整可靠。

电路调试中注意事项

调试(shi)结(jie)果是否(fou)正确，很(hen)大程度(du)受测(ce)(ce)试(shi)量正确与否(fou)和测(ce)(ce)试(shi)精(jing)度(du)的影响。为(wei)了(le)保证测(ce)(ce)试(shi)的结(jie)果，必须减小测(ce)(ce)试(shi)误差，提高测(ce)(ce)试(shi)精(jing)度(du)，为(wei)此需要(yao)注意(yi)一下几(ji)点(dian)：

1、正确(que)使(shi)用(yong)测(ce)(ce)试仪(yi)器(qi)的(de)(de)接(jie)(jie)地(di)端。使(shi)用(yong)地(di)端接(jie)(jie)机壳(qiao)的(de)(de)电(dian)子仪(yi)器(qi)进(jin)行测(ce)(ce)试，一(yi)起的(de)(de)接(jie)(jie)地(di)端应(ying)和放大器(qi)的(de)(de)接(jie)(jie)地(di)端接(jie)(jie)在(zai)一(yi)起，否(fou)则仪(yi)器(qi)机壳(qiao)引入(ru)的(de)(de)干扰不仅会使(shi)放大器(qi)的(de)(de)工作状态发(fa)生变化，而(er)且将使(shi)测(ce)(ce)试结果出(chu)现误差。根据这一(yi)原则，调试发(fa)射极偏(pian)置电(dian)路时，若(ruo)(ruo)需要测(ce)(ce)试Vce，不应(ying)把仪(yi)器(qi)的(de)(de)两(liang)端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)在(zai)集电(dian)极和发(fa)射极上(shang)，而(er)应(ying)分(fen)别(bie)对地(di)测(ce)(ce)出(chu)Vc和Ve，然后(hou)二者相减。若(ruo)(ruo)使(shi)用(yong)干电(dian)池供(gong)电(dian)的(de)(de)万用(yong)表(biao)测(ce)(ce)试，由于电(dian)表(biao)的(de)(de)两(liang)个输入(ru)端是浮动(dong)的(de)(de)，所以允许直接(jie)(jie)跨(kua)接(jie)(jie)到测(ce)(ce)试点之间。

2、测(ce)量电压(ya)所用(yong)仪器(qi)的输入阻(zu)抗必须(xu)远大于(yu)被(bei)测(ce)处的等(deng)效阻(zu)抗。若(ruo)测(ce)试仪器(qi)输入阻(zu)抗小，则在测(ce)量时会引起分流，给(ji)测(ce)试结果带来很大误差。

3、测试仪器的带宽必须大于被测电路的带宽。

4、正确(que)选择测(ce)试(shi)点。同一台(tai)测(ce)试(shi)仪器进行测(ce)量时，测(ce)量点不(bu)(bu)同，仪器内阻(zu)引起的误差将大不(bu)(bu)同。

5、测(ce)量方法(fa)要(yao)方便可(ke)行。需要(yao)测(ce)量某电(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)的电(dian)(dian)流时，一(yi)般尽可(ke)能测(ce)电(dian)(dian)压而不测(ce)电(dian)(dian)流，因为测(ce)电(dian)(dian)压不必改(gai)动电(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)。若需知道某一(yi)支路(lu)(lu)(lu)的电(dian)(dian)流值(zhi)，可(ke)以通过测(ce)取该支路(lu)(lu)(lu)上电(dian)(dian)阻(zu)两端的电(dian)(dian)压，经过换算而得到。

6、调(diao)试过程中，不但要认(ren)真(zhen)观(guan)察和测(ce)量(liang)，还要善(shan)于记(ji)录。记(ji)录的内容包(bao)括实验条件，观(guan)察的现象，测(ce)量(liang)的数据、波形和相(xiang)位关系等。只有大量(liang)的可靠的实验记(ji)录与理论结果相(xiang)比较，才(cai)能发现电(dian)路(lu)设计的问题，完善(shan)设计方案。

调试中排查故障

要认真查找(zhao)故障(zhang)(zhang)原(yuan)因，切不(bu)可一遇(yu)故障(zhang)(zhang)解(jie)(jie)决不(bu)了(le)就拆掉线路(lu)重新(xin)安(an)(an)装。因为如果是原(yuan)理上(shang)的问题，即使重新(xin)安(an)(an)装也解(jie)(jie)决不(bu)了(le)问题。

1、故障检查(cha)的一般方法

对于一个(ge)复杂的(de)(de)系统(tong)来(lai)说，要在大量(liang)的(de)(de)元器件(jian)和(he)线路中(zhong)准确地(di)找出(chu)故障是(shi)不容易的(de)(de)。一般故障诊断过程，是(shi)从故障现(xian)象出(chu)发，通过反复测试，做出(chu)分析判断，逐步找出(chu)故障的(de)(de)。

2、故障(zhang)现象(xiang)和产生故障(zhang)的原(yuan)因

1）常见的(de)故障现(xian)象(xiang)：放(fang)大(da)电路(lu)没有(you)输(shu)(shu)(shu)入(ru)信号，而有(you)输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)波(bo)形(xing)。放(fang)大(da)电路(lu)有(you)输(shu)(shu)(shu)入(ru)信号，但没有(you)输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)波(bo)形(xing)，或(huo)者(zhe)波(bo)形(xing)异常。串联(lian)稳(wen)(wen)压(ya)电源无(wu)电压(ya)输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)，或(huo)输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)电压(ya)过高而不(bu)能调整，或(huo)输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)稳(wen)(wen)压(ya)性能变(bian)坏、输(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)电压(ya)不(bu)稳(wen)(wen)等(deng)。震荡(dang)电路(lu)不(bu)产生震荡(dang)，计数器波(bo)形(xing)不(bu)稳(wen)(wen)等(deng)等(deng)。

2）产(chan)生(sheng)(sheng)故(gu)障的(de)原因：定型产(chan)品使(shi)用一段(duan)时间后出故(gu)障，可能(neng)是元件损(sun)坏，连线发生(sheng)(sheng)短路和断路，或者条件发生(sheng)(sheng)变化等等。

3、检查故障(zhang)一般方法(fa)

1）直接(jie)观(guan)察法：检查仪器的选用和使用是(shi)否(fou)正确(que)，电(dian)源电(dian)压(ya)的等(deng)级和极性是(shi)否(fou)符合(he)要(yao)求；极性元(yuan)件引脚(jiao)是(shi)否(fou)连(lian)接(jie)正确(que)，有无(wu)(wu)接(jie)错、漏接(jie)和互碰等(deng)情况。布线是(shi)否(fou)合(he)理(li)；印刷板是(shi)否(fou)短线断线，电(dian)阻电(dian)容有无(wu)(wu)烧焦和炸裂等(deng)。通(tong)电(dian)观(guan)察元(yuan)器件有无(wu)(wu)发烫、冒烟，变压(ya)器有无(wu)(wu)焦味，电(dian)子(zi)管(guan)、示波(bo)管(guan)灯丝(si)是(shi)否(fou)亮，有无(wu)(wu)高压(ya)打火(huo)等(deng)。

2）用(yong)(yong)万用(yong)(yong)表检查(cha)静态(tai)工(gong)作点(dian)：电(dian)子电(dian)路(lu)的(de)(de)供电(dian)系统，半导体三极管、集成块的(de)(de)直流工(gong)作状态(tai)(包括元、器件引脚、电(dian)源电(dian)压)、线路(lu)中(zhong)的(de)(de)电(dian)阻值(zhi)等都可用(yong)(yong)万用(yong)(yong)表测定。当(dang)测得值(zhi)与正常值(zhi)相差较大(da)时，经过分析可找到故(gu)障。

顺便(bian)指出，静态工(gong)作(zuo)点(dian)也可以用示波(bo)器(qi)“DC”输入方式测定。用示波(bo)器(qi)的(de)(de)优点(dian)是，内阻高，能(neng)同时(shi)看到直流工(gong)作(zuo)状态和被(bei)测点(dian)上(shang)的(de)(de)信号波(bo)形以及可能(neng)存在(zai)的(de)(de)干扰信号及噪声电压(ya)等，更有(you)利于分析故障。

3）信号寻迹法(fa)：对于各种较复杂的电路，可(ke)在输入端接(jie)入一个一定幅(fu)值、适当频率(lv)的信号(例如(ru)，对于多级(ji)放大器，可(ke)在其输入端接(jie)入f,1000 HZ的正(zheng)弦(xian)信号)，用示波器由前级(ji)到(dao)后级(ji)(或者(zhe)相反)，逐级(ji)观察波形及幅(fu)值的变化情(qing)况，如(ru)哪一级(ji)异常(chang)，则(ze)故障就在该级(ji)。

4）对比(bi)法：怀疑(yi)某(mou)一(yi)电(dian)(dian)路存在问(wen)题(ti)时(shi)，可将此(ci)电(dian)(dian)路的(de)参数与相同的(de)正常的(de)参数(或理论分析的(de)电(dian)(dian)流、电(dian)(dian)压(ya)、波形等)进(jin)行一(yi)一(yi)对比(bi)，从中(zhong)找出电(dian)(dian)路中(zhong)的(de)不正常情(qing)况，进(jin)而(er)分析并判(pan)断故障点(dian)。

5）部件(jian)(jian)替换法：有(you)时(shi)故(gu)障(zhang)比较隐(yin)蔽，不能一眼看出(chu)，如这时(shi)你手(shou)头(tou)有(you)与(yu)故(gu)障(zhang)仪(yi)器同型号(hao)的(de)仪(yi)器时(shi)，可以(yi)将仪(yi)器中(zhong)的(de)部件(jian)(jian)、元器件(jian)(jian)、插(cha)件(jian)(jian)板等替换有(you)故(gu)障(zhang)仪(yi)器中(zhong)的(de)相应部件(jian)(jian)，以(yi)便(bian)于缩(suo)小故(gu)障(zhang)范(fan)围并查找故(gu)障(zhang)源。

6）旁路法：当(dang)有寄生振荡(dang)现象(xiang)，可以利(li)用适当(dang)客(ke)量的(de)电(dian)容(rong)器，选择适当(dang)的(de)检(jian)查(cha)点(dian)，将电(dian)容(rong)临时跨接在检(jian)查(cha)点(dian)与参(can)考(kao)接地点(dian)之间，如果(guo)振荡(dang)消失，就(jiu)表明振荡(dang)是(shi)产生在此附近或前级电(dian)路中。否则就(jiu)在后面，再移(yi)动检(jian)查(cha)点(dian)寻找。旁路电(dian)容(rong)要适当(dang)，不(bu)宜过大，只要能较好(hao)地消除有害信号即可。

7）短(duan)(duan)路(lu)法：就(jiu)是(shi)采(cai)取临时性(xing)短(duan)(duan)接一部分(fen)电路(lu)来寻找(zhao)故障的方法。短(duan)(duan)路(lu)法对检查断路(lu)性(xing)故障最有(you)效。但要注(zhu)意对电源(yuan)(电路(lu))不能采(cai)用短(duan)(duan)路(lu)法。

8）断(duan)路法(fa)(fa)：断(duan)路法(fa)(fa)用于检(jian)查短路故(gu)(gu)障最有效。断(duan)路法(fa)(fa)也是一种使故(gu)(gu)障怀疑点逐步缩小范围的方法(fa)(fa)。例如(ru)，某(mou)稳压电源因接入(ru)一带有故(gu)(gu)障的电路，使输出电流过大，我们采取依次断(duan)开电路的某(mou)一支路的办法(fa)(fa)来检(jian)查故(gu)(gu)障。如(ru)果断(duan)开该支路后，电流恢复正常(chang)，则故(gu)(gu)障就发生(sheng)在此支路。

实际(ji)调试时，寻(xun)找(zhao)故(gu)障(zhang)(zhang)原因的方(fang)法多(duo)种多(duo)样，以(yi)上仅列举了几种常用的方(fang)法。这(zhei)些方(fang)法的使用对(dui)(dui)于(yu)简单(dan)的故(gu)障(zhang)(zhang)用一(yi)种方(fang)法即(ji)可查找(zhao)出故(gu)障(zhang)(zhang)点(dian)，但对(dui)(dui)于(yu)较(jiao)复杂的故(gu)障(zhang)(zhang)则(ze)需采(cai)取多(duo)种方(fang)法互(hu)相补充(chong)、互(hu)相配合，才能找(zhao)出故(gu)障(zhang)(zhang)点(dian)。在一(yi)般情(qing)况(kuang)下，寻(xun)找(zhao)故(gu)障(zhang)(zhang)的常规(gui)做法是(shi):

1）用直(zhi)接(jie)观(guan)察法(fa)，排(pai)除明显的故(gu)障(zhang)。

2）再用万用表(或示波器)检查静态工作点。

3）信号(hao)寻迹法(fa)是对各种电(dian)路普遍适用而(er)且简单直观的方法(fa)，在动态调(diao)试中广为应(ying)用。

联系方(fang)式：邹先生(sheng)

联系电(dian)话(hua)：0755-83888366-8022

手机：18123972950

QQ：2880195519

联系地址：深(shen)圳市福田区车公庙(miao)天安数码城天吉大厦CD座5C1

请搜微(wei)信公众号(hao):“KIA半导体(ti)”或扫(sao)一扫(sao)下图“关注”官方(fang)微(wei)信公众号(hao)

请“关注”官方微(wei)信(xin)公(gong)众(zhong)号:提供 MOS管(guan) 技(ji)术帮助