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MOSFET基本结构

信息来源:本站 日期:2017-05-22 

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由于在栅极与半导体之间有绝缘二氧化硅的关系,MOS管器(qi)件(jian)(jian)(jian)的输(shu)入(ru)阻抗(kang)(kang)非常高,此一特(te)色使MOSFET在(zai)(zai)功(gong)(gong)率(lv)(lv)器(qi)件(jian)(jian)(jian)的应用相当引人注目,因(yin)为高输(shu)入(ru)阻抗(kang)(kang)的关系,栅极(ji)漏电流非常低,因(yin)此功(gong)(gong)率(lv)(lv)MOSFET不(bu)必(bi)像使用双极(ji)型功(gong)(gong)率(lv)(lv)器(qi)件(jian)(jian)(jian)一样,需要复杂的输(shu)入(ru)驱动电路.此外,功(gong)(gong)率(lv)(lv)MOSFET的开(kai)关速(su)度也比功(gong)(gong)率(lv)(lv)双极(ji)型器(qi)件(jian)(jian)(jian)快很多,这是(shi)因(yin)为在(zai)(zai)关闭(bi)的过程中,MOS的单一载流子(zi)工作特(te)性(xing)并不(bu)会有少(shao)数载流子(zi)储存或(huo)复合的问题,

图6.43为三个基本的功率MOSFET结(jie)构(gou).与ULSI电(dian)路中的MOSFET器件不同的是(shi),功率MOSFET采用源极(ji)与漏极(ji)分别在晶片上方与下方的垂(chui)直(zhi)结(jie)构(gou).垂(chui)直(zhi)结(jie)构(gou)有大(da)的沟道宽度以(yi)及可降低栅极(ji)附近电(dian)场(chang)拥(yong)挤的优点.这(zhei)些特性在高功率的应用上非常重要.

图6.43(a)为有V型沟(gou)(gou)(gou)槽外(wai)型栅极(ji)(ji)的(de)(de)V-MOSFET,V型沟(gou)(gou)(gou)槽可通过(guo)KOH溶液(ye)湿法刻蚀来形成.当栅极(ji)(ji)电(dian)压大(da)于阈值电(dian)压时,沿(yan)着V型沟(gou)(gou)(gou)槽边(bian)缘将感应出(chu)反型的(de)(de)沟(gou)(gou)(gou)道,并在源极(ji)(ji)与漏极(ji)(ji)之间形成一(yi)导(dao)电(dian)的(de)(de)沟(gou)(gou)(gou)道.V-MOSFET发展的(de)(de)主要限制在于其(qi)相关的(de)(de)工艺控(kong)制.V型沟(gou)(gou)(gou)槽尖端的(de)(de)强(qiang)电(dian)场可能会造(zao)成该处电(dian)流拥(yong)挤,进而(er)造(zao)成器件特性的(de)(de)退化(hua),

图6.43 (b)为U-MOSFET的(de)(de)剖面(mian)图,与(yu)V-MOSFET非常相似.U型(xing)沟(gou)槽(cao)(cao)是通过反应离子刻蚀来形成,且其(qi)底部(bu)角(jiao)落(luo)的(de)(de)电场大(da)体(ti)上比(bi)V型(xing)沟(gou)槽(cao)(cao)的(de)(de)尖端小(xiao)很多.另(ling)一(yi)种(zhong)功率MOSFET为D-MOSFET,如图6.43(c)所示.栅(zha)极做在(zai)上表面(mian)处(chu),并充作后续双(shuang)(shuang)重扩(kuo)(kuo)散工(gong)(gong)艺的(de)(de)掩(yan)模版(ban).双(shuang)(shuang)重扩(kuo)(kuo)散工(gong)(gong)艺(此即称(cheng)之为D-MOSFET的(de)(de)理由)用(yong)来形成p基(ji)(ji)极以及n+源极等(deng)部(bu)位.D-MOSFET的(de)(de)优点在(zai)于其(qi)跨(kua)过p基(ji)(ji)极区(qu)域的(de)(de)短暂漂(piao)移时间以及可避免转角(jiao)的(de)(de)大(da)电场,

此(ci)三种功率MOSFET结构在漏(lou)极(ji)区都(dou)有(you)一(yi)(yi)(yi)(yi)个n一(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)漂移(yi)区,n一(yi)(yi)(yi)(yi)漂移(yi)区的(de)掺杂(za)(za)浓(nong)度(du)比p基极(ji)区小,所以当一(yi)(yi)(yi)(yi)正电压施加于漏(lou)极(ji)上时,漏(lou)极(ji)/p基极(ji)结被反向偏压,大部分的(de)耗尽区宽度(du)将跨过(guo)n一(yi)(yi)(yi)(yi)漂移(yi)区,因(yin)此(ci)n一(yi)(yi)(yi)(yi)漂移(yi)区的(de)掺杂(za)(za)浓(nong)度(du)及宽度(du)是计算漏(lou)极(ji)支撑电压的(de)一(yi)(yi)(yi)(yi)个重要参数.另一(yi)(yi)(yi)(yi)方面,功率MOSFET结构中(zhong)存有(you)…寄(ji)生的(de)n-p-n-n+器件(jian).

为(wei)了避免双极(ji)(ji)型晶体(ti)管在功率MOSFET工作时动作.需将p基(ji)极(ji)(ji)与ni源极(ji)(ji)(发射极(ji)(ji))之间短路,如(ru)图6. 43所示,如(ru)此可使(shi)p基(ji)极(ji)(ji)维持在一固(gu)定(ding)电(dian)压.


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