电子元器件-电子元器件损坏的原因你知道多少

电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)元器(qi)件损坏的原因你知道(dao)多少(shao)？一切电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)装置如(ru)洗(xi)衣机、冰(bing)箱、空调、计算机、仪器(qi)、仪表、汽车电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)等都是(shi)(shi)形(xing)形(xing)色(se)色(se)的，不同功能(neng)的电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)组成。根(gen)据张飞第三大定律组成电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)的基本单位是(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)元器(qi)件，这些器(qi)件都是(shi)(shi)以硬件的形(xing)式存在的，它们都有各自的电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)气参数，如(ru)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流及功率特性等。

因(yin)此，元器件是最易损坏(huai)(huai)的物(wu)品，但其故障却是有规律可循的。一般的故障表现为电(dian)气参数(shu)损坏(huai)(huai)和物(wu)理损坏(huai)(huai)两类(lei)，那么电(dian)气参数(shu)的损坏(huai)(huai)又包(bao)含电(dian)压(ya)电(dian)流超(chao)过额定值导致(zhi)的损坏(huai)(huai)，物(wu)理的损坏(huai)(huai)包(bao)括断裂(lie)，变形，阻值参数(shu)变化(hua)等(deng)表现形式。

电阻损坏的特点

电阻(zu)(zu)是电器(qi)设备中数(shu)量最多(duo)的元件，但不(bu)是损坏率(lv)最高(gao)的元件。电阻(zu)(zu)损坏以(yi)开路最常见(jian)，阻(zu)(zu)值变(bian)大较(jiao)少见(jian)，阻(zu)(zu)值变(bian)小十(shi)分少见(jian)。常见(jian)的有碳膜电阻(zu)(zu)、金属膜电阻(zu)(zu)、线(xian)绕电阻(zu)(zu)和保险(xian)电阻(zu)(zu)几种。

前两种(zhong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)应(ying)用(yong)最广(guang)，其损(sun)坏(huai)的(de)特点：一是(shi)低(di)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)（100Ω以下）和高阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)（100kΩ以上）的(de)损(sun)坏(huai)率较高，中间阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)（如几百欧(ou)(ou)到几十千(qian)欧(ou)(ou)）的(de)极少损(sun)坏(huai)；二是(shi)低(di)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)损(sun)坏(huai)时往往是(shi)烧焦发黑，很容易发现，而高阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)损(sun)坏(huai)时很少有痕迹。

线(xian)绕(rao)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)一(yi)般用作大电(dian)(dian)(dian)流限(xian)流，阻(zu)值不(bu)大。圆柱形(xing)线(xian)绕(rao)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)烧坏(huai)时有(you)的会(hui)(hui)发黑或表面爆(bao)皮、裂纹，有(you)的没有(you)痕(hen)迹。水泥电(dian)(dian)(dian)阻(zu)是线(xian)绕(rao)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)的一(yi)种，烧坏(huai)时可(ke)能(neng)会(hui)(hui)断裂，否则也(ye)没有(you)可(ke)见(jian)痕(hen)迹。保险电(dian)(dian)(dian)阻(zu)烧坏(huai)时有(you)的表面会(hui)(hui)炸掉一(yi)块皮，有(you)的也(ye)没有(you)什么痕(hen)迹，但(dan)绝(jue)不(bu)会(hui)(hui)烧焦(jiao)发黑。根据以上特(te)点(dian)，在(zai)检(jian)查电(dian)(dian)(dian)阻(zu)时可(ke)有(you)所侧(ce)重，快速找出损坏(huai)的电(dian)(dian)(dian)阻(zu)。

电解电容损坏的特点

电(dian)解电(dian)容在电(dian)器设备中的用量很大(da)，故障率很高。电(dian)解电(dian)容损坏有以下几种表(biao)现：

一(yi)是完全失(shi)去(qu)容量或容量变小；

二(er)是(shi)轻(qing)微或严重(zhong)漏电；

三是失去容(rong)量或容(rong)量变(bian)小兼(jian)有漏电。

查找损坏的(de)电(dian)解电(dian)容(rong)方法有：

（1）看：有的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)容损坏时会漏(lou)液，电(dian)(dian)(dian)容下面(mian)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)路板表面(mian)甚至(zhi)电(dian)(dian)(dian)容外表都会有一层油渍，这种电(dian)(dian)(dian)容绝对不能再用；有的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)容损坏后会鼓起，这种电(dian)(dian)(dian)容也不能继(ji)续使用；

（2）摸：开机(ji)后有些漏(lou)电严重的电解电容会发热(re)，用(yong)手指触摸时甚至会烫手，这种电容必须更换；

（3）电(dian)(dian)解电(dian)(dian)容内部有电(dian)(dian)解液(ye)，长时间烘烤会使电(dian)(dian)解液(ye)变干(gan)，导致电(dian)(dian)容量减小，所以要(yao)重点检(jian)查散热片及大(da)功率元器件附近(jin)(jin)的电(dian)(dian)容，离其越近(jin)(jin)，损坏的可(ke)能性就越大(da)。

二极管、三极管等半导体器件损坏的特点

三极管(guan)的损坏一般是PN结(jie)击(ji)(ji)穿(chuan)或开路，其(qi)中(zhong)以击(ji)(ji)穿(chuan)短路居多。

此(ci)外(wai)还(hai)有两种损坏(huai)表现：

一是热稳定(ding)性变差，表(biao)现为开机(ji)时(shi)正常(chang)，工作一段(duan)时(shi)间后，发生软击穿(chuan)；

另一种是(shi)PN结(jie)的特性变差(cha)，用(yong)万用(yong)表R×1k测，各(ge)PN结(jie)均正(zheng)常，但上机后不(bu)能正(zheng)常工作，如果用(yong)R×10或R×1低量程档测，就会发现其PN结(jie)正(zheng)向阻值比(bi)正(zheng)常值大。

测量二、三极管可以用(yong)指针万(wan)用(yong)表在(zai)路(lu)测量，较准确的方(fang)法(fa)是(shi)：

将万用表(biao)置R×10或R×1档（一般用R×10档，不(bu)明显时再用R×1档）在(zai)路(lu)(lu)测二、三极管的(de)PN结(jie)正(zheng)、反(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)，如果正(zheng)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)不(bu)太大(da)（相(xiang)对正(zheng)常(chang)值(zhi)(zhi)），反(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)足够大(da)（相(xiang)对正(zheng)向(xiang)值(zhi)(zhi)），表(biao)明该PN结(jie)正(zheng)常(chang)，反(fan)之就值(zhi)(zhi)得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电(dian)路(lu)(lu)的(de)二、三极管外围电(dian)阻(zu)(zu)大(da)多在(zai)几百(bai)、几千欧(ou)以(yi)(yi)上(shang)，用万用表(biao)低(di)阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)档在(zai)路(lu)(lu)测量(liang)，可(ke)以(yi)(yi)基本(ben)忽略(lve)外围电(dian)阻(zu)(zu)对PN结(jie)电(dian)阻(zu)(zu)的(de)影响。

集成电路损坏的特点

集成(cheng)(cheng)电(dian)路内(nei)部结构复杂(za)，功能很多，任何(he)一部分损(sun)坏(huai)都(dou)无法正(zheng)常工作。集成(cheng)(cheng)电(dian)路的(de)损(sun)坏(huai)也有两种：彻(che)底损(sun)坏(huai)、热稳定性不良。彻(che)底损(sun)坏(huai)时，可将其拆下，与正(zheng)常同型号集成(cheng)(cheng)电(dian)路对比测其每一引脚(jiao)对地的(de)正(zheng)、反向电(dian)阻，总(zong)能找到其中一只或几只引脚(jiao)阻值异常。

对热稳定性(xing)差的，可以在(zai)设备工作时(shi)(shi)，用无水酒精冷(leng)却被怀(huai)疑的集成电(dian)路，如果故(gu)障(zhang)发生时(shi)(shi)间推迟或(huo)不(bu)再发生故(gu)障(zhang)，即可判(pan)定。通常只能更换(huan)新集成电(dian)路来排除。

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