结型(xing)场(chang)效应管-结型(xing)场(chang)效应管结构和符号(hao)、特性曲线-KIA MOS管
信息来源:本站(zhan) 日期:2017-07-17
1.构造与符号
结型场效(xiao)应管(guan)的构造表(biao)示图及其(qi)表(biao)示符号如图2-31所示。
在图2-31(a)中,s表示Source,源极;D表示Drain,漏极;G表示Gate,栅极。在漏极和源极之间加上一个正向电压后,N型嗲电子半导体中的多数载流子(zi)(电子(zi))便能够导(dao)电了(le)。这(zhei)种(zhong)导(dao)电沟道是N型的场(chang)效应管(guan),称为N沟道结型场(chang)效应管(guan)。
图2-31 (b)中(zhong)的(de)(de)场效应(ying)管在P型硅(gui)棒的(de)(de)两侧制成了高掺杂(za)的(de)(de)N型区(N+),其导电沟道(dao)为P型,多数载流(liu)子为空(kong)穴。
1)转移特性曲线
转移特性曲线(xian)表达当UDS一定时,栅源(yuan)电压Ucs对漏(lou)极电流iD的控制造用(yong),即
理论剖析和实测结果标明,iD与ucs契合平(ping)方(fang)律关系,即
式中,IDSS为(wei)(wei)饱(bao)和电流,表示(shi)UGS=o时的(de)iD值;UP为(wei)(wei)夹断电压,表示(shi)UGS=Up时iD为(wei)(wei)零(ling)。
由此可见,结型MOS场效应管转移特(te)性曲线(xian)(xian)是用来阐(chan)明在一(yi)定的(de)漏源(yuan)电压u陌时,栅(zha)源(yuan)电压UGS和漏极(ji)电流(liu)iD之间变化关系的(de)曲线(xian)(xian)。JFET的(de)转移特(te)性曲线(xian)(xian)如图2-32所示。
为(wei)(wei)了使(shi)输(shu)入(ru)阻抗大(不允(yun)许(xu)呈现(xian)栅流(liu)ic),也为(wei)(wei)了使(shi)栅源电(dian)(dian)压对(dui)沟(gou)道宽(kuan)度及漏极电(dian)(dian)流(liu)有效(xiao)地停止控制,PN结一定要反(fan)偏,因而在N沟(gou)道JFET中(zhong),uGS必需为(wei)(wei)负值。
2、输出特性曲线
输出特性(xing)曲线表达当栅源(yuan)电压UGS,不变时,漏极电流iD与漏源(yuan)电压UDS的关系,即
由此可见,输出(chu)特性曲线表示(shi)的足以Ucs为参(can)变(bian)量时iD与UDS的关系。JFET的输出(chu)特性曲线如图(tu)2-33所示(shi),依据特性曲线的各局部特征(zheng),能(neng)够将其分为四个区域,如图(tu)中所示(shi)。
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