超(chao)结MOS管(guan)(guan),MOS管(guan)(guan)-MOS管(guan)(guan)与超(chao)结MOS管(guan)(guan)的(de)区别(bie)及(ji)超(chao)结MOS管(guan)(guan)应用领域介(jie)绍-KIA MOS管(guan)(guan)
信息来源:本站(zhan) 日期:2018-07-18
1:关(guan)端状态
垂直(zhi)(zhi)导(dao)电(dian)N+区(qu)夹在两边的(de)P区(qu)中间,当(dang)MOS关断时(shi),也就是(shi)G极的(de)电(dian)压为0时(shi),横向(xiang)(xiang)(xiang)形成(cheng)两个反(fan)向(xiang)(xiang)(xiang)偏置(zhi)的(de)PN结(jie):P和(he)垂直(zhi)(zhi)导(dao)电(dian)N+、P+和(he)外延epi层(ceng)(ceng)N-。栅极下(xia)面的(de)的(de)P区(qu)不能形成(cheng)反(fan)型层(ceng)(ceng)产生导(dao)电(dian)沟道,左边P和(he)中间垂直(zhi)(zhi)导(dao)电(dian)N+形成(cheng)PN结(jie)反(fan)向(xiang)(xiang)(xiang)偏置(zhi),右边P和(he)中间垂直(zhi)(zhi)导(dao)电(dian)N+形成(cheng)PN结(jie)反(fan)向(xiang)(xiang)(xiang)偏置(zhi),PN结(jie)耗尽层(ceng)(ceng)增大,并建立横向(xiang)(xiang)(xiang)水(shui)平(ping)电(dian)场。
当中间的N+的渗杂浓度(du)和宽度(du)控制得合(he)适,就(jiu)可以将中间的N+完全耗(hao)尽,这(zhei)样在(zai)中间的N+就(jiu)没(mei)有(you)自由电荷,相当于本征半导体,中间的横向(xiang)电场极高(gao),只有(you)外(wai)(wai)部电压(ya)大于内部的横向(xiang)电场,才(cai)能(neng)将此区域击穿,所以,这(zhei)个区域的耐压(ya)极高(gao),远大于外(wai)(wai)延(yan)层的耐压(ya),功率MOSFET管(guan)的耐压(ya)主要由外(wai)(wai)延(yan)层来决定。
2:开(kai)通状态
当(dang)G极(ji)加(jia)上(shang)驱动(dong)电(dian)(dian)(dian)压(ya)时,在(zai)(zai)G极(ji)的(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)将(jiang)(jiang)积累正(zheng)电(dian)(dian)(dian)荷(he)(he),同时,吸(xi)引(yin)P区(qu)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)子(zi)到(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian),将(jiang)(jiang)P区(qu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)空穴中(zhong)和(he),在(zai)(zai)栅极(ji)下面(mian)形成(cheng)耗尽层(ceng)(ceng),如图5示。随着G极(ji)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)压(ya)提高,栅极(ji)表(biao)(biao)(biao)面(mian)正(zheng)电(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)增强(qiang),进(jin)一(yi)(yi)(yi)(yi)步吸(xi)引(yin)P区(qu)电(dian)(dian)(dian)子(zi)到(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian),这(zhei)(zhei)样,在(zai)(zai)G极(ji)下面(mian)的(de)(de)P型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)沟道(dao)区(qu)中(zhong),积累负(fu)电(dian)(dian)(dian)荷(he)(he),形成(cheng)N型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)反型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)层(ceng)(ceng),同时,由于(yu)(yu)更(geng)多负(fu)电(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)在(zai)(zai)P型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)表(biao)(biao)(biao)面(mian)积累,一(yi)(yi)(yi)(yi)些负(fu)电(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)将(jiang)(jiang)扩散(san)进(jin)入原来完(wan)全耗尽的(de)(de)垂直的(de)(de) N+,横向(xiang)的(de)(de)耗尽层(ceng)(ceng)越(yue)(yue)来越(yue)(yue)减小(xiao),横向(xiang)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)场也越(yue)(yue)来越(yue)(yue)小(xiao)。G极(ji)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)压(ya)进(jin)一(yi)(yi)(yi)(yi)步提高,P区(qu)更(geng)宽范围(wei)形成(cheng)N型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)反型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)层(ceng)(ceng),最(zui)后,N+区(qu)域回到(dao)原来的(de)(de)高渗(shen)杂的(de)(de)状(zhuang)态,这(zhei)(zhei)样,就形成(cheng)的(de)(de)低导通(tong)电(dian)(dian)(dian)阻的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)流(liu)路(lu)径。另(ling)外还(hai)有一(yi)(yi)(yi)(yi)种介于(yu)(yu)平面(mian)和(he)超结(jie)型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)结(jie)构中(zhong)间的(de)(de)类型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing),是AOS开发的(de)(de)一(yi)(yi)(yi)(yi)种专利结(jie)构,虽然电(dian)(dian)(dian)流(liu)密度低于(yu)(yu)超结(jie)型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing),但抗大电(dian)(dian)(dian)流(liu)冲击能力非常优异。
1、不(bu)(bu)同(tong)耐(nai)(nai)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)(guan)的(de)(de)(de)导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)分(fen)布(bu)。不(bu)(bu)同(tong)耐(nai)(nai)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)(guan),其(qi)导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)中各部分(fen)电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)比例(li)分(fen)布(bu)也(ye)不(bu)(bu)同(tong)。如耐(nai)(nai)压(ya)(ya)30V的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)(guan),其(qi)外(wai)延(yan)层电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)仅(jin)为(wei)总导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)29%,耐(nai)(nai)压(ya)(ya)600V的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)(guan)的(de)(de)(de)外(wai)延(yan)层电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)则(ze)是总导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)96.5%。由此可以推断耐(nai)(nai)压(ya)(ya)800V的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)(guan)的(de)(de)(de)导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)将几乎被外(wai)延(yan)层电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)占据。欲获得(de)高阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)断电(dian)(dian)压(ya)(ya),就必须采用高电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)率的(de)(de)(de)外(wai)延(yan)层,并增厚。这就是常规(gui)高压(ya)(ya)MOS管(guan)(guan)(guan)结构所(suo)导(dao)(dao)(dao)致的(de)(de)(de)高导(dao)(dao)(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)根(gen)本原因。
2、降(jiang)(jiang)低(di)高(gao)(gao)(gao)(gao)压MOS管(guan)(guan)导(dao)(dao)通(tong)(tong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)的思路。增(zeng)(zeng)加管(guan)(guan)芯面(mian)积虽能降(jiang)(jiang)低(di)导(dao)(dao)通(tong)(tong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu),但成本的提(ti)高(gao)(gao)(gao)(gao)所(suo)付(fu)出的代价是(shi)(shi)商(shang)业品所(suo)不允许的。引入少(shao)数载流(liu)以(yi)上(shang)两种办法(fa)不能降(jiang)(jiang)低(di)高(gao)(gao)(gao)(gao)压MOS管(guan)(guan)的导(dao)(dao)通(tong)(tong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu),所(suo)剩(sheng)的思路就是(shi)(shi)如何将阻(zu)(zu)(zu)断高(gao)(gao)(gao)(gao)电(dian)压的低(di)掺(chan)杂(za)、高(gao)(gao)(gao)(gao)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)区(qu)域(yu)和导(dao)(dao)电(dian)通(tong)(tong)道的高(gao)(gao)(gao)(gao)掺(chan)杂(za)、低(di)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)分开解决。如除导(dao)(dao)通(tong)(tong)时低(di)掺(chan)杂(za)的高(gao)(gao)(gao)(gao)耐(nai)压外(wai)延(yan)层(ceng)对导(dao)(dao)通(tong)(tong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)只能起(qi)增(zeng)(zeng)大(da)作用(yong)外(wai)并无其他(ta)用(yong)途。这样,是(shi)(shi)否可(ke)以(yi)将导(dao)(dao)电(dian)通(tong)(tong)道以(yi)高(gao)(gao)(gao)(gao)掺(chan)杂(za)较低(di)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)实(shi)现,而在MOS管(guan)(guan)关断时,设法(fa)使这个通(tong)(tong)道以(yi)某种方式夹断,使整个器件耐(nai)压仅取决于低(di)掺(chan)杂(za)的N-外(wai)延(yan)层(ceng)。基于这种思想(xiang),1988年INFINEON推(tui)出内(nei)建(jian)横(heng)向电(dian)场(chang)耐(nai)压为600V的COOLMOS管(guan)(guan),使这一(yi)想(xiang)法(fa)得以(yi)实(shi)现。内(nei)建(jian)横(heng)向电(dian)场(chang)的高(gao)(gao)(gao)(gao)压MOS管(guan)(guan)的剖面(mian)结构(gou)及(ji)高(gao)(gao)(gao)(gao)阻(zu)(zu)(zu)断电(dian)压低(di)导(dao)(dao)通(tong)(tong)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)的示意图(tu)如图(tu)所(suo)示。
与(yu)常(chang)规MOS管(guan)(guan)结构不(bu)同(tong),内建横向电场的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)嵌入(ru)垂(chui)直P区将垂(chui)直导(dao)电区域的(de)(de)(de)N区夹在中间,使MOS管(guan)(guan)关断时,垂(chui)直的(de)(de)(de)P与(yu)N之间建立横向电场,并(bing)且(qie)垂(chui)直导(dao)电区域的(de)(de)(de)N掺杂(za)浓(nong)度高于其(qi)外延区N-的(de)(de)(de)掺杂(za)浓(nong)度。
VGS<VTH时(shi),由(you)于被(bei)电(dian)场(chang)反型(xing)(xing)而产(chan)生的(de)N型(xing)(xing)导电(dian)沟道(dao)不(bu)能形成,并且D,S间加正电(dian)压,使MOS管内部PN结反偏形成耗尽(jin)层(ceng),并将(jiang)垂直(zhi)导电(dian)的(de)N区(qu)耗尽(jin)。这个耗尽(jin)层(ceng)具有纵向高阻断电(dian)压,如图(b)所示,这时(shi)器件的(de)耐(nai)压取决于P与N-的(de)耐(nai)压。因此N-的(de)低掺杂、高电(dian)阻率是必需的(de)。
当CGS>VTH时(shi),被(bei)电(dian)(dian)(dian)场反型(xing)而产生的(de)(de)N型(xing)导电(dian)(dian)(dian)沟(gou)道形成(cheng)。源极区的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)子通过导电(dian)(dian)(dian)沟(gou)道进入(ru)被(bei)耗(hao)尽(jin)的(de)(de)垂直的(de)(de)N区中(zhong)和正电(dian)(dian)(dian)荷,从(cong)而恢(hui)复被(bei)耗(hao)尽(jin)的(de)(de)N型(xing)特性,因(yin)(yin)此(ci)导电(dian)(dian)(dian)沟(gou)道形成(cheng)。由于(yu)垂直N区具(ju)有较低的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)率,因(yin)(yin)而导通电(dian)(dian)(dian)阻(zu)较常规(gui)MOS管将(jiang)明显降低。
通过(guo)以(yi)上分(fen)析(xi)可以(yi)看到:阻(zu)断(duan)(duan)电(dian)(dian)压与导(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)分(fen)别(bie)在不同(tong)的功能区(qu)域。将阻(zu)断(duan)(duan)电(dian)(dian)压与导(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)功能分(fen)开,解决了阻(zu)断(duan)(duan)电(dian)(dian)压与导(dao)通电(dian)(dian)阻(zu)的矛盾,同(tong)时(shi)也将阻(zu)断(duan)(duan)时(shi)的表(biao)面(mian)PN结转化为(wei)掩埋PN结,在相(xiang)同(tong)的N-掺杂浓度时(shi),阻(zu)断(duan)(duan)电(dian)(dian)压还可进一步提高(gao)。
这些(xie)就是常规MOS管(guan)和COOLMOS管(guan)即(ji)本公司(si)超结MOS管(guan)的(de)不(bu)(bu)同(tong)之处(chu),这里我也不(bu)(bu)过多的(de)说超结MOS管(guan)有多好了,因为这两种MOS管(guan)的(de)用途不(bu)(bu)一样,可以说是各有千秋啦(la),尺有所短(duan)寸有所长嘛。
我们公司设计(ji)(ji)的(de)超结(jie)MOS管(guan)是用(yong)先进(jin)的(de)耐压(ya)原理(li)和有话的(de)设计(ji)(ji)结(jie)构,全新(xin)600V-900V系列产品(pin)为系统应用(yong)提供充足的(de)耐压(ya)余(yu)量,简化系统设计(ji)(ji)难度,提高(gao)系统可靠性。满足客(ke)户对高(gao)耐压(ya)、低导通电阻和高(gao)效率超结(jie)MOS管(guan)的(de)需求。
我们公司超(chao)结MOS管的主(zhu)要(yao)特点(dian)是(shi):
1:更耐(nai)压伟系统(tong)设计和(he)应用提宫更充足余(yu)量
2:更低(di)的导通电压,利于降(jiang)低(di)导通损耗
3:极(ji)低的栅极(ji)电荷,提供(gong)更快的开(kai)关速(su)度
4:同规(gui)格下更(geng)小的封装体(ti)积,使系(xi)统更(geng)轻便
5:雪(xue)崩能(neng)力(li)测试,确(que)保产品质量可靠
MOS管(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)工作原理(以N沟道增(zeng)强型MOS场效应管(guan))它是(shi)利用(yong)VGS来控制“感应电(dian)(dian)荷(he)(he)(he)”的(de)(de)(de)(de)(de)多少,以改(gai)(gai)(gai)变(bian)由这(zhei)些(xie)“感应电(dian)(dian)荷(he)(he)(he)”形成的(de)(de)(de)(de)(de)导电(dian)(dian)沟道的(de)(de)(de)(de)(de)状况,然后达到控制漏极(ji)电(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)(de)。在制造管(guan)子(zi)时(shi),通(tong)过工艺使绝缘(yuan)层中(zhong)出现大量(liang)正离子(zi),故(gu)在交界面的(de)(de)(de)(de)(de)另一侧(ce)能感应出较多的(de)(de)(de)(de)(de)负电(dian)(dian)荷(he)(he)(he),这(zhei)些(xie)负电(dian)(dian)荷(he)(he)(he)把高渗杂质的(de)(de)(de)(de)(de)N区接通(tong),形成了(le)导电(dian)(dian)沟道,即使在VGS=0时(shi)也有较大的(de)(de)(de)(de)(de)漏极(ji)电(dian)(dian)流(liu)ID。当栅(zha)极(ji)电(dian)(dian)压改(gai)(gai)(gai)变(bian)时(shi),沟道内被感应的(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)荷(he)(he)(he)量(liang)也改(gai)(gai)(gai)变(bian),导电(dian)(dian)沟道的(de)(de)(de)(de)(de)宽窄也随之而(er)变(bian),因而(er)漏极(ji)电(dian)(dian)流(liu)ID随着栅(zha)极(ji)电(dian)(dian)压的(de)(de)(de)(de)(de)变(bian)化(hua)而(er)变(bian)化(hua)。(插图)
MOSFET管(guan)是(shi)(shi)FET的(de)(de)(de)一种(zhong)(另一种(zhong)是(shi)(shi)JFET),能够被制(zhi)形成加强(qiang)型或(huo)(huo)耗尽(jin)型,P沟(gou)(gou)(gou)道或(huo)(huo)N沟(gou)(gou)(gou)道共4品种(zhong)型,但实践应用的(de)(de)(de)只要(yao)加强(qiang)型的(de)(de)(de)N沟(gou)(gou)(gou)道MOS管(guan)和加强(qiang)型的(de)(de)(de)P沟(gou)(gou)(gou)道MOS管(guan),所(suo)以(yi)通常(chang)提到NMOS,或(huo)(huo)者(zhe)PMOS指的(de)(de)(de)就(jiu)是(shi)(shi)这两种(zhong)。至于为什么(me)不运用耗尽(jin)型的(de)(de)(de)MOS管(guan),不提倡寻根究底。关(guan)于这两种(zhong)加强(qiang)型MOS管(guan),比拟常(chang)用的(de)(de)(de)是(shi)(shi)NMOS.缘由是(shi)(shi)导通电阻小,且(qie)容(rong)易制(zhi)造。所(suo)以(yi)开关(guan)电源和马达(da)驱(qu)动(dong)的(de)(de)(de)应用中(zhong),普通都用NMOS下面的(de)(de)(de)引见中(zhong),也(ye)多以(yi)NMOS为主。
MOS管(guan)(guan)的(de)(de)(de)三个(ge)(ge)管(guan)(guan)脚之间(jian)有寄生电(dian)容存在(zai)(zai)(zai)(zai),这(zhei)(zhei)不是我们需求的(de)(de)(de),而是由于制(zhi)造工艺限制(zhi)产生的(de)(de)(de)。寄生电(dian)容的(de)(de)(de)存在(zai)(zai)(zai)(zai)使得在(zai)(zai)(zai)(zai)设(she)计或选择驱(qu)动(dong)电(dian)路(lu)(lu)的(de)(de)(de)时(shi)分要(yao)费事(shi)一些,但没有方(fang)法防止(zhi),后(hou)边再细(xi)致引见(jian)。在(zai)(zai)(zai)(zai)MOS管(guan)(guan)原理图上能够看到,漏(lou)极和源极之间(jian)有一个(ge)(ge)寄生二极管(guan)(guan)。这(zhei)(zhei)个(ge)(ge)叫体(ti)二极管(guan)(guan),在(zai)(zai)(zai)(zai)驱(qu)动(dong)理性负(fu)载(zai)(如马达),这(zhei)(zhei)个(ge)(ge)二极管(guan)(guan)很重要(yao)。顺便说一句,体(ti)二极管(guan)(guan)只在(zai)(zai)(zai)(zai)单(dan)个(ge)(ge)的(de)(de)(de)MOS管(guan)(guan)中(zhong)存在(zai)(zai)(zai)(zai),在(zai)(zai)(zai)(zai)集成电(dian)路(lu)(lu)芯(xin)片内部通常是没有的(de)(de)(de)。
联系方式(shi):邹先生
联系电(dian)话:0755-83888366-8022
手机:18123972950
QQ:2880195519
联系地(di)址:深圳市福田区(qu)车公庙(miao)天(tian)安数码城天(tian)吉(ji)大厦(sha)CD座5C1
请搜(sou)微(wei)信公众(zhong)号:“KIA半导体”或扫(sao)一扫(sao)下图“关注”官方(fang)微(wei)信公众(zhong)号
请“关注”官方微信公众号:提供 MOS管 技术帮助