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LED日光灯电源技(ji)术问题-LED日光灯电源不(bu)烧坏(huai)MOS管的注意要(yao)点(dian)-KIA MOS管

信息来源:本站 日期:2019-11-13 

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LED日光灯电源技术问题-LED日光灯电源不烧坏MOS管的注意要点

LED日光灯的发光原理

PN结的(de)端电压构成一定势垒(lei),当(dang)加正向(xiang)偏(pian)置电压时势垒(lei)下(xia)降(jiang), P区和N区的(de)多数载(zai)流子(zi)向(xiang)对方扩散。由(you)于电子(zi)迁移率比空(kong)穴迁移率大得多,所以(yi)会出现(xian)大量(liang)电子(zi)向(xiang)P区扩散,构成对P区少数载(zai)流子(zi)的(de)注入(ru)。这些电子(zi)与价带(dai)上的(de)空(kong)穴复(fu)合,复(fu)合时得到的(de)能(neng)量(liang)以(yi)光能(neng)的(de)形(xing)式释放(fang)出去。这就是PN结发(fa)光的(de)原理。


LED,变压器,MOS管


LED日光灯电源-防止烧坏MOS管的4大主要要点

LED日(ri)光灯电源(yuan)发(fa)热(re)(re)到一定程度会导致烧坏,关于这个问(wen)题,也见到过(guo)有人在行(xing)业(ye)论(lun)(lun)坛发(fa)过(guo)贴讨(tao)论(lun)(lun)过(guo)。本(ben)文将从(cong)芯片(pian)发(fa)热(re)(re)、功率管发(fa)热(re)(re)、工作(zuo)频率降频、电感或者(zhe)变压器的(de)选择(ze)、LED电流大小等方面讨(tao)论(lun)(lun)LED日(ri)光灯电源(yuan)发(fa)热(re)(re)烧坏MOS管技术。


一(yi))芯片发(fa)热(re)

本次(ci)内(nei)(nei)容主要针对内(nei)(nei)置电源调制器的(de)(de)(de)(de)(de)高(gao)压(ya)驱(qu)(qu)动芯(xin)(xin)片(pian)。假(jia)如芯(xin)(xin)片(pian)消耗(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)电流(liu)(liu)为(wei)(wei)(wei)2mA,300V的(de)(de)(de)(de)(de)电压(ya)加在芯(xin)(xin)片(pian)上面,芯(xin)(xin)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)耗(hao)为(wei)(wei)(wei)0.6W,当然会(hui)引(yin)起(qi)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)发热(re)。驱(qu)(qu)动芯(xin)(xin)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)最大电流(liu)(liu)来自于驱(qu)(qu)动功(gong)率MOS管的(de)(de)(de)(de)(de)消耗(hao),简(jian)单的(de)(de)(de)(de)(de)计算公(gong)式为(wei)(wei)(wei)I=cvf(考(kao)虑充电的(de)(de)(de)(de)(de)电阻效益,实际I=2cvf,其中c为(wei)(wei)(wei)功(gong)率MOS管的(de)(de)(de)(de)(de)cgs电容,v为(wei)(wei)(wei)功(gong)率管导(dao)通(tong)时的(de)(de)(de)(de)(de)gate电压(ya),所以为(wei)(wei)(wei)了降低(di)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)耗(hao),必须想(xiang)办法降低(di)c、v和f.如果c、v和f不(bu)(bu)能改(gai)变,那(nei)么(me)请想(xiang)办法将(jiang)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)耗(hao)分(fen)到芯(xin)(xin)片(pian)外的(de)(de)(de)(de)(de)器件,注意不(bu)(bu)要引(yin)入额外的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)耗(hao)。再简(jian)单一点,就是考(kao)虑更好的(de)(de)(de)(de)(de)散热(re)吧。


(二)功率管发热

功(gong)率(lv)管的功(gong)耗分成两部分,开(kai)关损耗和(he)(he)导(dao)通损耗。要注意,大(da)多(duo)数(shu)场(chang)合特别是LED市电驱动应用,开(kai)关损害要远大(da)于导(dao)通损耗。开(kai)关损耗与功(gong)率(lv)管的cgd和(he)(he)cgs以及芯片(pian)的驱动能力和(he)(he)工作频率(lv)有(you)关,所以要解决功(gong)率(lv)管的发热可以从以下几个(ge)方面解决:


a、不(bu)能片面(mian)根据导通电(dian)(dian)阻大小来选择MOS功率管,因为(wei)(wei)内(nei)阻越(yue)小,cgs和cgd电(dian)(dian)容越(yue)大。如1N60的(de)cgs为(wei)(wei)250pF左(zuo)右(you),2N60的(de)cgs为(wei)(wei)350pF左(zuo)右(you),5N60的(de)cgs为(wei)(wei)1200pF左(zuo)右(you),差别太大了,选择功率管时,够用(yong)就可(ke)以了。


b、剩下的(de)(de)就(jiu)是(shi)(shi)频(pin)率和(he)芯片(pian)驱(qu)动能(neng)力了(le),这里只(zhi)谈频(pin)率的(de)(de)影(ying)响。频(pin)率与导通损耗也成正比(bi),所以功(gong)率管发热时,首先要(yao)想(xiang)想(xiang)是(shi)(shi)不是(shi)(shi)频(pin)率选择(ze)的(de)(de)有(you)点高。想(xiang)办法降低(di)频(pin)率吧(ba)!不过要(yao)注意,当(dang)频(pin)率降低(di)时,为了(le)得到相同的(de)(de)负载(zai)能(neng)力,峰值电流(liu)必然要(yao)变大或者电感也变大,这都有(you)可能(neng)导致电感进入饱(bao)和(he)区域(yu)。如(ru)果电感饱(bao)和(he)电流(liu)够大,可以考虑将CCM(连(lian)续(xu)电流(liu)模式)改(gai)变成DCM(非(fei)连(lian)续(xu)电流(liu)模式),这样就(jiu)需(xu)要(yao)增加(jia)一个负载(zai)电容了(le)。


(三(san))工作频(pin)率降频(pin)

这个(ge)也是用户在调试过程中比(bi)较常见的现象,降频主要由两(liang)个(ge)方(fang)面(mian)导致。输入电压(ya)和负(fu)载电压(ya)的比(bi)例(li)小、系统干扰大。对(dui)于前者,注意不要将负(fu)载电压(ya)设置的太高(gao),虽然负(fu)载电压(ya)高(gao),效(xiao)率(lv)会(hui)高(gao)点。对(dui)于后者,可以尝试以下几个(ge)方(fang)面(mian):


a、将最小电流设置的再小点;


b、布线干净点,特(te)别(bie)是(shi)sense这(zhei)个关键路径(jing);


c、将电感(gan)选(xuan)择的(de)小点或者(zhe)选(xuan)用闭合磁路的(de)电感(gan);


d、加RC低通滤波吧,这个影(ying)响(xiang)有点不(bu)(bu)好(hao),C的一(yi)致性不(bu)(bu)好(hao),偏差有点大(da),不(bu)(bu)过对于照明来(lai)说应该(gai)够(gou)了。


无论如何(he)降频没(mei)有好处,只有坏处,所以一定(ding)要解决。


(四(si))电(dian)感或(huo)者(zhe)变压(ya)器的选(xuan)择

终于谈到重点了,我(wo)还(hai)没(mei)有(you)入(ru)门,只(zhi)能瞎说(shuo)点饱(bao)和的影(ying)(ying)响了。很多(duo)用(yong)户反应,相同的驱动电(dian)(dian)路,用(yong)a生(sheng)产的电(dian)(dian)感没(mei)有(you)问题,用(yong)b生(sheng)产的电(dian)(dian)感电(dian)(dian)流就(jiu)变小了。遇(yu)到这(zhei)种情况,要(yao)看看电(dian)(dian)感电(dian)(dian)流波形。有(you)的工(gong)程(cheng)师没(mei)有(you)注意到这(zhei)个现象(xiang),直接调(diao)节sense电(dian)(dian)阻或者工(gong)作频率(lv)达到需要(yao)的电(dian)(dian)流,这(zhei)样做可能会(hui)严重影(ying)(ying)响LED的使用(yong)寿命(ming)。


所以说,在(zai)设(she)计前,合理的(de)(de)计算是(shi)必须的(de)(de),如果理论计算的(de)(de)参数和(he)(he)调试参数差的(de)(de)有点远,要考虑是(shi)否(fou)降频和(he)(he)变压(ya)器是(shi)否(fou)饱和(he)(he)。变压(ya)器饱和(he)(he)时,L会变小,导致传输delay引起的(de)(de)峰(feng)值电(dian)流(liu)增(zeng)量急剧上升(sheng),那(nei)么(me)LED的(de)(de)峰(feng)值电(dian)流(liu)也跟(gen)着增(zeng)加。在(zai)平(ping)均电(dian)流(liu)不(bu)变的(de)(de)前提下,只能看(kan)着光衰了。


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