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集射极间电压

信(xin)息(xi)来源:本站 日期(qi):2017-05-15 

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射(she)极开(kai)路的(de)时分,集(ji)射(she)极间能够承(cheng)受(shou)的(de)最(zui)大(da)电(dian)(dian)压(ya) 。它是器件的(de)最(zui)小(xiao)额定电(dian)(dian)压(ya)。假设基射(she)极间的(de)电(dian)(dian)阻很小(xiao)  ( 50 lOO!l) ,那(nei)么(me)在(zai)关断状态下晶体管能够承(cheng)受(shou)一个(ge)更高(gao)的(de)电(dian)(dian)压(ya)。



大功率晶体管 ( 集电极无缓冲器) 关断时,典型的集电极电流F降和集射极间电压上升过程  2N6836 C 15A、850V ) 的MOS开关电路时间 晶体管能够安全承受的最高电压。这是在关断的瞬间呈现漏感尖峰时 ,晶体管能够承受的最大电压 。只需在关断期间,基极存在一个一I5V的反向尖峰电压时,晶体管才干承受这个电压。反向偏置的基极电压或电压尖峰必需由基极驱动电路提供 ,其持续时间必需大于漏感尖峰的持续时间 。


反(fan)向偏置(zhi)安全(quan)工(gong)作区(qu)域(yu)。在(zai)关断期(qi)间(jian),le-Vee曲线不能(neng)(neng)越过(guo)给出的(de)边(bian)境。就算是一次越界也可(ke)能(neng)(neng)损坏晶(jing)体(ti)(ti)管(guan)(guan),由于电流会集中在(zai)芯片的(de)某个小(xiao)部分 ,招(zhao)致局(ju)部过(guo)热  。若在(zai)关断瞬(shun) 间(jian)加上]~5V的(de)反(fan)偏电压,可(ke)工(gong)作在(zai)边(bian)境以内。若关断时 Vbe=O ,则晶(jing)体(ti)(ti)管(guan)(guan)只能(neng)(neng)工(gong)作在(zai)区(qu)域(yu)内 .能(neng)(neng)同时满足高、低(di)卢(lu)值(zhi)的(de)晶(jing)体(ti)(ti)管(guan)(guan)工(gong)作恳(ken)求的(de)设计方案产品的(de)卢(lu)值(zhi)的(de)离散性(xing)很(hen)大,可(ke)能(neng)(neng)相差4倍(bei)之(zhi)多(duo)。假设基(ji)极(ji)电流可(ke)以较(jiao)好(hao)的(de)驱(qu)动卢(lu)值(zhi)低(di)的(de)晶(jing)体(ti)(ti)管(guan)(guan),那么它(ta)将对F值(zhi)高的(de)晶(jing)体(ti)(ti)管(guan)(guan)构成很(hen)强(qiang)的(de)过(guo)驱(qu)动 ,招(zhao)致过(guo)长的(de)储存(cun)时间(jian) 。假设要缩短过(guo) 长的(de)储存(cun)时间(jian) ,需(xu)求的(de)反(fan)向基(ji)极(ji)电流就会相当大 。


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