mos管公式-分享MOS管公式驱动(dong)电流、饱和(he)区电流等-KIA MOS管
信息(xi)来源:本站 日期:2020-02-27
mos管公式驱动电流的估算第一种:
可以(yi)使用如下公式估算:
Ig=Qg/Ton
其中:
Ton=t3-t0≈td(on)+tr
td(on):MOS导通延迟时(shi)间,从有(you)驶入电压上升到(dao)10%开始到(dao)VDS下降到(dao)其(qi)幅值90%的(de)时(shi)间。
Tr:上升时间。输出电压VDS从90%下降(jiang)到其幅值10%的时间
Qg=(CEI)(VGS)或Qg=Qgs+Qgd+Qod (可在(zai)datasheet中找到(dao))
mos管公式驱动电流的估算第二种:
密勒(le)效应(ying)时间(开(kai)关时间)Ton/off=Qgd/Ig;
Ig=[Vb-Vgs(th)]/Rg;
Ig:MOS栅极驱动(dong)(dong)电流;Vb:稳态栅极驱动(dong)(dong)电压;
mos管公式驱动电流的估算第三种:
以IR的IRF640为例(li),看DATASHEET里有(you)条Total Gate Charge曲(qu)线。该曲(qu)线先(xian)上升(sheng)然后(hou)几乎水平再上升(sheng)。水平那段是管子开通(tong)(密勒效应(ying))假定你希(xi)望在0.2us内使管子开通(tong),估计总时间(jian)(先(xian)上升(sheng)然后(hou)水平再上升(sheng))为0.4us,由Qg=67nC和(he)0.4us可(ke)得:
67nC/0.4us=0.1675A,当然,这是峰(feng)值(zhi),仅在管(guan)子开(kai)通(tong)和关短的各0.2us里有电流,其他时间几乎没有电流,平均值(zhi)很小(xiao),但如果(guo)驱动芯片(pian)不(bu)能输出(chu)这个峰(feng)值(zhi),管(guan)子的开(kai)通(tong)就会(hui)变慢。
mos管(guan)公式饱和区(qu)电(dian)流公式,在强(qiang)反(fan)型状态下饱和区(qu)中的(de)工(gong)作(zuo)(zuo)。小信号参数的(de)值因MOS晶体(ti)管(guan)的(de)工(gong)作(zuo)(zuo)区(qu)域(yu)而变化(hua)。假定MOS晶体(ti)管(guan)处于VGS比阈值电(dian)压VT高(gao)得多(duo)的(de)强(qiang)反(fan)型状态,而且工(gong)作(zuo)(zuo)在饱和区(qu),求(qiu)这种(zhong)状况下的(de)小信号参数。
可将跨导gm表示如下:
在能够疏忽沟道长(zhang)度(du)调(diao)制效应的状况下,得到
这个跨(kua)导gm能够用漏极电(dian)流ID表示(shi)为(wei)
也能够用漏极(ji)电流ID和栅极(ji)-源极(ji)间(jian)电压(ya)VGS表示为(wei)
体跨导gmb能够由下式求得:
由式(shi)(1.18)和式(shi)(1.20),能(neng)够分别导出
所以得到
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