快恢复二极管的(de)测量(liang)

快恢(hui)复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)属于整流(liu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)中的(de)(de)(de)高频二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)，特点(dian)是它的(de)(de)(de)反向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时间(jian)很短，这一点(dian)特别适(shi)合(he)高频率整流(liu)。快恢(hui)复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)的(de)(de)(de)反向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时间(jian)是其性能的(de)(de)(de)重要参(can)数，反向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时间(jian)的(de)(de)(de)定义是：二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)从正向(xiang)(xiang)导(dao)通状态急(ji)剧转换(huan)到截(jie)止(zhi)状态，从输出脉冲(chong)下降(jiang)到零线(xian)开始，到反向(xiang)(xiang)电(dian)源(yuan)恢(hui)复(fu)到最大(da)反向(xiang)(xiang)电(dian)流(liu)的(de)(de)(de)10％所需要的(de)(de)(de)时间(jian)。常(chang)用符号trr表示，trr值越小的(de)(de)(de)快恢(hui)复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)工作频率越高。因为导(dao)通和截(jie)止(zhi)转换(huan)迅速，从而可以(yi)改善整流(liu)波形。

快(kuai)恢(hui)复(fu)二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管的内部结(jie)构(gou)与普通(tong)(tong)二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管不同，普通(tong)(tong)整流(liu)二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管是一个(ge)PN结(jie)，而快(kuai)恢(hui)复(fu)二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管PN结(jie)中间增加了基(ji)区(qu)I，构(gou)成PIN硅片(pian)。由于(yu)基(ji)区(qu)很薄，反(fan)向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)电荷很小(xiao)，所(suo)(suo)以快(kuai)恢(hui)复(fu)二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管的反(fan)向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时(shi)(shi)间较(jiao)短。从电物理现象(xiang)来(lai)解释(shi)，导(dao)通(tong)(tong)状态(tai)向(xiang)(xiang)截止状态(tai)转变时(shi)(shi)，二(er)(er)(er)极(ji)(ji)管在阻断反(fan)向(xiang)(xiang)电流(liu)之(zhi)前需要首先释(shi)放上个(ge)周(zhou)期存储(chu)(chu)的电荷，这个(ge)放电时(shi)(shi)间被称为反(fan)向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时(shi)(shi)间，反(fan)向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时(shi)(shi)间实(shi)际上是由电荷存储(chu)(chu)效应引起的．反(fan)向(xiang)(xiang)恢(hui)复(fu)时(shi)(shi)间就是存储(chu)(chu)电荷耗尽所(suo)(suo)需要的时(shi)(shi)间。

在(zai)业余条件下，利(li)用万用表能(neng)检(jian)测快恢(hui)复、超快恢(hui)复二极(ji)管(guan)的单向(xiang)(xiang)导(dao)电性，以及内部(bu)有(you)无开路(lu)、短路(lu)故(gu)障(zhang)，并能(neng)测出(chu)正向(xiang)(xiang)导(dao)通(tong)压(ya)降。若配以兆欧表，还能(neng)测量(liang)反(fan)向(xiang)(xiang)击穿电压(ya)。

将万用表置于Rx1k挡，测(ce)(ce)快(kuai)(kuai)恢(hui)复(fu)二极管的正(zheng)、反向电(dian)阻(zu)，正(zheng)向电(dian)阻(zu)一般为(wei)几欧姆，反向电(dian)阻(zu)为(wei)∞，如果测(ce)(ce)得的阻(zu)值均为(wei)∞或为(wei)0，则表明被测(ce)(ce)管子损坏。 快(kuai)(kuai)恢(hui)复(fu)二极管的对(dui)管检(jian)测(ce)(ce)方法与上述方法基本相同，但必须首先确定其共用端是哪(na)个(ge)引脚，然后再用上述方法对(dui)各个(ge)快(kuai)(kuai)恢(hui)复(fu)二极管进行检(jian)测(ce)(ce)。

实例：测量一(yi)只C90-02超(chao)快恢复二极管(guan)，其主(zhu)要参数为：trr=35ns，Id=5A，IFSM=50A，VRM=700V。外型同图(tu)(a)。将500型万用表拨至R×1档，读出正向(xiang)电(dian)阻为6.4Ω，n′=19.5格；反向(xiang)电(dian)阻则为无穷大。进(jin)一(yi)步求得VF=0.03V/格×19.5=0.585V。证明管(guan)子是(shi)好的(de)。

使用(yong)注(zhu)意(yi)事项(xiang)

1）有些单管(guan)，共三个引脚，中间(jian)的(de)为空脚，一般在(zai)出厂(chang)时剪(jian)(jian)掉，但(dan)也有不剪(jian)(jian)的(de)。

2）若(ruo)对管(guan)中有一只管(guan)子损(sun)坏，则可作为单管(guan)使用。

3）测正向导通压降(jiang)时，必须使用(yong)R×1档(dang)。若用(yong)R×1k档(dang)，因测试电流太小，远低(di)于管子的(de)正常工(gong)作电流，故测出的(de)VF值(zhi)将明显偏低(di)。在(zai)上(shang)面例子中，如(ru)果选择R×1k档(dang)测量，正向电阻就(jiu)等于2.2kΩ，此时n′=9格。由(you)此计算出的(de)VF值(zhi)仅0.27V，远低(di)于正常值(zhi)(0.6V)。

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