IC集成电路好坏判断方法

IC集成电路解析

集(ji)成(cheng)(cheng)电路(lu)是一(yi)(yi)种微型(xing)(xing)电子(zi)器(qi)件(jian)或部件(jian)。采用一(yi)(yi)定的(de)工(gong)艺，把一(yi)(yi)个(ge)电路(lu)中(zhong)所(suo)需的(de)晶体管(guan)(guan)(guan)、二(er)极管(guan)(guan)(guan)、电阻、电容和(he)电感(gan)等元(yuan)件(jian)及布线互连一(yi)(yi)起，制(zhi)作在一(yi)(yi)小(xiao)(xiao)(xiao)块(kuai)或几(ji)小(xiao)(xiao)(xiao)块(kuai)半(ban)导体晶片(pian)或介质基(ji)片(pian)上(shang)，然(ran)后封装(zhuang)在一(yi)(yi)个(ge)管(guan)(guan)(guan)壳内(nei)，成(cheng)(cheng)为具有所(suo)需电路(lu)功能的(de)微型(xing)(xing)结(jie)构；其中(zhong)所(suo)有元(yuan)件(jian)在结(jie)构上(shang)已组(zu)成(cheng)(cheng)一(yi)(yi)个(ge)整体，从(cong)而使(shi)电子(zi)元(yuan)件(jian)向着(zhe)微小(xiao)(xiao)(xiao)型(xing)(xing)化、低(di)功耗和(he)高可靠性方面迈(mai)进了(le)一(yi)(yi)大步。 它在电路(lu)中(zhong)用字母(mu)“ic”（也(ye)有用文字符号“n”等）表示。

IC集成电路应用

IC集成(cheng)电路不仅在(zai)工、民用(yong)电子设备如收录机、电视机、计算(suan)机等方(fang)面(mian)得到(dao)广泛的应(ying)用(yong)，同时在(zai)军事(shi)、通(tong)讯、遥(yao)控等方(fang)面(mian)也(ye)得到(dao)广泛的应(ying)用(yong)。

IC集成电路好坏判断方法

一、不在路检测

IC集成电路好(hao)坏判断方法(fa)，这(zhei)种方法(fa)是在(zai)ｉｃ未焊(han)入电路时进行的(de)，一般情况下可用万用表测(ce)量各引脚(jiao)对应(ying)于接地引脚(jiao)之(zhi)间的(de)正、反向(xiang)电阻值，并和(he)完好(hao)的(de)ｉｃ进行 较。

二、在路检测

这是一种通(tong)过万用(yong)表检(jian)测(ce)ic各引脚在路（ic在电路中）直流(liu)电阻、对地交直流(liu)电压以(yi)及(ji)总工作电流(liu)的(de)(de)检(jian)测(ce)方(fang)法。这种方(fang)法克(ke)服了代换试验法需要有可代换ic的(de)(de)局限(xian)性和拆ic的(de)(de)麻烦，是检(jian)测(ce)ic最常用(yong)和实用(yong)的(de)(de)方(fang)法。

直流工作电压测量

这是一种在通电(dian)(dian)(dian)情况(kuang)下，用万(wan)用表(biao)直(zhi)流(liu)电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)挡对直(zhi)流(liu)供电(dian)(dian)(dian)电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)、外围(wei)元(yuan)件(jian)(jian)的工作电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)进行(xing)测量；检(jian)测ｉｃ各(ge)引脚对地直(zhi)流(liu)电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)值，并(bing)与正常值相(xiang) 较，进而压(ya)(ya)缩故障范围(wei)， 出损坏(huai)的元(yuan)件(jian)(jian)。

测量时(shi)要注(zhu)意(yi)以(yi)下八(ba) ：

(1)万用表(biao)要有足够大(da)(da)的内阻， 少要大(da)(da)于被测电(dian)(dian)路(lu)电(dian)(dian)阻的１０倍(bei)以上(shang)，以免造成较大(da)(da)的测量误差。

(2)通常(chang)把各电位(wei)器旋到中间(jian)位(wei)置，如果是电视机，信号源要采用标(biao)准彩条信号发生器。

（3）表(biao)笔(bi)或探头(tou)要采取(qu)防滑措施。因任(ren)何瞬(shun)间短路(lu)都容易损坏ｉｃ。可采取(qu)如下(xia)方法防止表(biao)笔(bi)滑动：取(qu)一段(duan)自行(xing)车用(yong)气门芯套在表(biao)笔(bi)尖上，并长出表(biao)笔(bi)尖约０．５ｍｍ左右，这(zhei)既能使表(biao)笔(bi)尖良好地与被(bei)测试点接触，又(you)能有效(xiao)防止打滑，即(ji)使碰上邻(lin)近点也不会(hui)短路(lu)。

(4)当测得(de)某一引(yin)脚(jiao)电压(ya)(ya)(ya)与正(zheng)常值不(bu)符时，应(ying)根据该引(yin)脚(jiao)电压(ya)(ya)(ya)对(dui)ｉｃ正(zheng)常工(gong)作有无(wu)重要影(ying)响以及其(qi)他引(yin)脚(jiao)电压(ya)(ya)(ya)的(de)相应(ying)变化(hua)进行分析， 能判断(duan)ｉｃ的(de)好坏。

(5)ｉｃ引脚(jiao)电(dian)压(ya)(ya)会(hui)受外围元(yuan)器(qi)件影(ying)响。当外围元(yuan)器(qi)件发生漏(lou)电(dian)、短路、开(kai)路或变(bian)值(zhi)时(shi)，或外围电(dian)路连接的(de)是一个阻(zu)值(zhi)可变(bian)的(de)电(dian)位器(qi)，则电(dian)位器(qi)滑动臂(bei)所(suo)处的(de)位置不同，都(dou)会(hui)使引脚(jiao)电(dian)压(ya)(ya)发生变(bian)化。

(6)若ｉｃ各引脚电压(ya)正(zheng)常(chang)，则(ze)一般认为ｉｃ正(zheng)常(chang)；若ｉｃ部分(fen)引脚电压(ya)异常(chang)，则(ze)应从偏离正(zheng)常(chang)值最大处入手，检(jian)查外围(wei)元件有(you)无故障，若无故障，则(ze)ｉｃ很可能损(sun)坏。

(7)对于动态接(jie)收装置(zhi)，如(ru)电视机，在有(you)无(wu)信号时，ｉｃ各(ge)引脚电压(ya)是不(bu)(bu)同(tong)的(de)。如(ru)发现引脚电压(ya)不(bu)(bu)该(gai)变(bian)化的(de)反而(er)(er)变(bian)化大，该(gai)随信号大小和可调元件不(bu)(bu)同(tong)位置(zhi)而(er)(er)变(bian)化的(de)反而(er)(er)不(bu)(bu)变(bian)化，就(jiu)可确定ｉｃ损(sun)坏。

(8)对于多种工作(zuo)方(fang)式的装(zhuang)置(zhi)，如录(lu)像机，在不同工作(zuo)方(fang)式下，ｉｃ各引脚电压也是不同的。

交流工作电压测量法

为了(le)掌(zhang)握ｉｃ交(jiao)流信号(hao)的(de)变化情况，可以用(yong)(yong)带有ｄｂ插(cha)(cha)(cha)孔(kong)的(de)万(wan)(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)对ｉｃ的(de)交(jiao)流工作电压进行近似测(ce)(ce)量(liang)。检测(ce)(ce)时万(wan)(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)置于交(jiao)流电压挡(dang)，正表(biao)(biao)(biao)笔插(cha)(cha)(cha)入ｄｂ插(cha)(cha)(cha)孔(kong)；对于无ｄｂ插(cha)(cha)(cha)孔(kong)的(de)万(wan)(wan)用(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)，需(xu)要在正表(biao)(biao)(biao)笔串接一(yi)只(zhi)０．１～０．５μｆ隔直(zhi)电容。该法适用(yong)(yong)于工作频率 较低(di)的(de)ｉｃ，如电视机的(de)视频放大(da)级(ji)、场扫描(miao)电路(lu)等。由(you)于这些(xie)电路(lu)的(de)固有频率不同，波形(xing)不同，所(suo)以所(suo)测(ce)(ce)的(de)数据是近似值，只(zhi)能供(gong)参考。

总电流测量法

该法(fa)是通(tong)过检测ｉｃ电(dian)(dian)源进(jin)线的总电(dian)(dian)流(liu)，来判 ｉｃ好坏的一(yi)种方法(fa)。由于ｉｃ内部绝大多数(shu)为直接耦合，ｉｃ损坏时（如某一(yi)个ｐｎ结击穿或开路）会引起后(hou)级饱和与截止，使总电(dian)(dian)流(liu)发生(sheng)变(bian)化。所(suo)以通(tong)过测量(liang)总电(dian)(dian)流(liu)的方法(fa)可(ke)以判 ｉｃ的好坏。也可(ke)用测量(liang)电(dian)(dian)源通(tong)路中电(dian)(dian)阻的电(dian)(dian)压降，用欧(ou)姆定律(lv)计算出总电(dian)(dian)流(liu)值(zhi)。

电(dian)(dian)(dian)压(ya)测量或用示波(bo)器探(tan)头测试波(bo)形时(shi)，表(biao)笔或探(tan)头不要由于滑动而造成集成电(dian)(dian)(dian)路引(yin)脚(jiao)(jiao)间(jian)短路，最好在与引(yin)脚(jiao)(jiao)直接连(lian)通(tong)的(de)外围(wei)印(yin)刷电(dian)(dian)(dian)路上进行测量。任何瞬间(jian)的(de)短路都(dou)容易损坏集成电(dian)(dian)(dian)路，在测试扁平型封装的(de)CMOS集成电(dian)(dian)(dian)路时(shi)更(geng)要加倍小心。

严禁(jin)在(zai)无隔离变压器的(de)情况下，用已(yi)接(jie)(jie)地(di)的(de)测(ce)试(shi)设备(bei)去接(jie)(jie)触底板带电的(de)电视、音(yin)响、录像(xiang)等(deng)设备(bei)。严禁(jin)用外(wai)壳已(yi)接(jie)(jie)地(di)的(de)仪(yi)器设备(bei)直接(jie)(jie)测(ce)试(shi)无电源(yuan)隔离变压器的(de)电视、音(yin)响、录像(xiang)等(deng)设备(bei)。

虽然一(yi)般的(de)收录机(ji)都具有(you)电(dian)(dian)(dian)源变压(ya)器，当接触到较特殊的(de)尤其是输出功(gong)率较大或对(dui)采用的(de)电(dian)(dian)(dian)源性(xing)(xing)质不(bu)太(tai)了解的(de)电(dian)(dian)(dian)视或音(yin)响设备(bei)时，首先要弄清该(gai)机(ji)底盘是否(fou)带电(dian)(dian)(dian)，否(fou)则极(ji)易与底板带电(dian)(dian)(dian)的(de)电(dian)(dian)(dian)视、音(yin)响等设备(bei)造成(cheng)电(dian)(dian)(dian)源短路，波(bo)及(ji)集成(cheng)电(dian)(dian)(dian)路，造成(cheng)故障的(de)进(jin)一(yi)步扩大。?要注意电(dian)(dian)(dian)烙铁的(de)绝(jue)缘性(xing)(xing)能。

不允许带(dai)电使用(yong)烙铁(tie)焊接(jie)(jie)，要确(que)认烙铁(tie)不带(dai)电，最好把烙铁(tie)的外壳(qiao)接(jie)(jie)地，对MOS电路更(geng)应小心，能采用(yong)6~8V的低压电路铁(tie)就更(geng)安全(quan)。?要保证(zheng)焊接(jie)(jie)质量(liang)。焊接(jie)(jie)时确(que)实焊牢(lao)，焊锡的堆(dui)积、气(qi)孔容(rong)易造成虚(xu)焊。

焊(han)接(jie)时间一般(ban)不超过3秒钟，烙铁(tie)的功率应(ying)用(yong)内热式25W左右。已焊(han)接(jie)好的集(ji)成电(dian)路(lu)要仔细(xi)查看，最好用(yong)欧姆表测量各引脚间有(you)否短路(lu)，确认无焊(han)锡粘连现象再接(jie)通电(dian)源。?不要轻易断定集(ji)成电(dian)路(lu)的损坏。

不(bu)(bu)要轻(qing)易(yi)地(di)判(pan)断集(ji)(ji)成(cheng)电路已损坏(huai)。因为(wei)集(ji)(ji)成(cheng)电路绝大多数为(wei)直(zhi)接(jie)耦合，一(yi)旦某一(yi)电路不(bu)(bu)正常，可能(neng)会(hui)导致多处电压变(bian)化(hua)，而(er)这(zhei)些变(bian)化(hua)不(bu)(bu)一(yi)定(ding)是集(ji)(ji)成(cheng)电路损坏(huai)引起(qi)的(de)(de)，另外在有(you)些情况下测得(de)各引脚电压与正常值相(xiang)符或接(jie)近时，也不(bu)(bu)一(yi)定(ding)都(dou)能(neng)说明集(ji)(ji)成(cheng)电路就是好的(de)(de)。因为(wei)有(you)些软故障不(bu)(bu)会(hui)引起(qi)直(zhi)流电压的(de)(de)变(bian)化(hua)。

测试仪表内(nei)阻要(yao)大(da)。测量集成电(dian)路(lu)引(yin)(yin)脚(jiao)直流(liu)电(dian)压(ya)时，应选用表头内(nei)阻大(da)于20KΩ/V的(de)万用表，否则(ze)对某些引(yin)(yin)脚(jiao)电(dian)压(ya)会有较(jiao)大(da)的(de)测量误(wu)差(cha)。?要(yao)注意功率集成电(dian)路(lu)的(de)散热。

功率集成电(dian)路(lu)应散热(re)良好，不(bu)允许不(bu)带散热(re)器而处于大(da)功率的状态下(xia)工作(zuo)。?引线要合(he)理。如需要加(jia)接(jie)外围元(yuan)件代替(ti)集成电(dian)路(lu)内部已(yi)损坏(huai)部分(fen)，应选用小(xiao)型(xing)元(yuan)器件，且接(jie)线要合(he)理以免造成不(bu)必(bi)要的寄生耦(ou)合(he)，尤其是要处理好音频功放集成电(dian)路(lu)和前(qian)置放大(da)电(dian)路(lu)之间的接(jie)地(di)端。

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