体二极管的技术参(can)数VSD、IS、trr、Qrr、ISM、IRRM
信息来源:本站 日(ri)期(qi):2017-08-14
体二极管的技术参数VSD、Is、trr、Qrr、ISM、IRRM
早期的功率MOSFET常常会由于漏-源极的电流或者电压的变化速率太快而失控,或者形成漏-源极的击穿损坏。而在大功率的高速开关电路中,纯阻性负载是很少见的,即便外部负载是纯阻性的,电路的散布参数、VMOS本身的散布参数在VMOS高速开关期间,也会有时间很短但是速度很快的电压/电流变化现象。形成MOSFET易损的缘由是内部寄生的NPN晶体管在作祟。
源极(ji)(ji)(ji)连续(xu)电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu),漏极(ji)(ji)(ji)与源极(ji)(ji)(ji)间的(de)(de)(de)体二极(ji)(ji)(ji)管(guan)的(de)(de)(de)最(zui)大正(zheng)向连续(xu)电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu),也写作IDR,意义(yi)是(漏极(ji)(ji)(ji)连续(xu)反向电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu))。手(shou)册普(pu)通(tong)给(ji)出的(de)(de)(de)是最(zui)大值,这(zhei)个参数表(biao)征的(de)(de)(de)是在(zai)VMOS关断、体二 极(ji)(ji)(ji)管(guan)开通(tong)时(shi)能接受的(de)(de)(de)最(zui)大电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu),电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)方(fang)向与漏极(ji)(ji)(ji)电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)相反,以不超越管(guan)芯的(de)(de)(de)结温(wen)为(wei)限。假如(ru)仅仅表(biao)示体二极(ji)(ji)(ji)管(guan)的(de)(de)(de)正(zheng)向续(xu)流(liu)(liu)(liu)(liu)电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)而不是最(zui)大值时(shi),普(pu)通(tong)用(yong)IF表(biao)示;不过(guo),在(zai)一些老产(chan)品的(de)(de)(de)技术手(shou)册中,IF也表(biao)示续(xu)流(liu)(liu)(liu)(liu)电(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)的(de)(de)(de)最(zui)大值。
目(mu)前依(yi)据二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan)的(de)反(fan)向恢复(fu)时间对功率(lv)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan)的(de)分类,普(pu)通(tong)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan)的(de)trr>500ns:trr在(zai)300一500ns之间为(wei)(wei)快速二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan);trr在(zai)100~300ns为(wei)(wei)快恢复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan);trr在(zai)50-100ns为(wei)(wei)超(chao)快恢复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan);trr<10ns为(wei)(wei)肖特(te)基二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan),如今有一些超(chao)快恢复(fu)二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan)的(de)trr在(zai)20一50ns之间。小(xiao)功率(lv)开关二(er)(er)极(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)(guan)的(de)trr般也小(xiao)于20ns。
(体二极(ji)管)反向(xiang)恢复电(dian)荷。这个参(can)数(shu)表征(zheng)的(de)是体二极(ji)管的(de)结(jie)电(dian)容在止(zhi)向(xiang)开通期间所(suo)存储(chu)的(de)电(dian)荷,相当于(yu)体二极(ji)管的(de)结(jie)电(dian)容所(suo)存储(chu)的(de)能(neng)量。
一(yi)些(xie)产(chan)品(pin)的技术手册还会给出体二极管的反(fan)向恢(hui)复时间(jian)(jian)的降(jiang)落时间(jian)(jian)(ta)、上升时间(jian)(jian)(tb),普通而(er)言,ta>tb。
技(ji)术手册在(zai)给出体(ti)二(er)极管的(de)(de)(de)技(ji)术参数时(shi)(shi),测试条件(jian)中会(hui)有图3。21中的(de)(de)(de)di/dt参数,在(zai)给出的(de)(de)(de)曲线(xian)图中,有时(shi)(shi)会(hui)采用dif/dt,由于反向(xiang)恢(hui)(hui)复电(dian)流的(de)(de)(de)—卜升速率更快,因而更有代(dai)表性。二(er)者对(dui)Irr、trr、Qrr均有明显影响,对(dui)IRRM、Qrr影响是(shi)(shi)(shi)正(zheng)向(xiang)的(de)(de)(de),对(dui)trr的(de)(de)(de)影响则(ze)是(shi)(shi)(shi)反向(xiang)的(de)(de)(de)。图3. 22是(shi)(shi)(shi)IRF3207的(de)(de)(de)技(ji)术手册中给出的(de)(de)(de)波(bo)形图,VR表示体(ti)二(er)极管两(liang)端的(de)(de)(de)最人反向(xiang)恢(hui)(hui)复电(dian)压。