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器件自身的失效

普通来说，器件的失效率具有图14.1所示的倾向。反映这种倾向的曲线叫做澡盆曲线。澡盆曲线，如图所示能够分为早期失效、偶然失效、耗损失效三个阶段。

1．早期失效

制造厂家在器件出厂时要进(jin)行全数检查，只要电学(xue)特性(xing)和外观(guan)合(he)格(ge)者才能(neng)进(jin)入(ru)市场。但是(shi)也难免(mian)有(you)差的(de)产品混入(ru)市场。经过疲倦实验的(de)产品，短时间(jian)运用出现的(de)失效(xiao)能(neng)够认为是(shi)器件本身的(de)制造质量问题。例如，芯片上布线断(duan)开，封(feng)装时引线焊接(jie)不牢，硅衬底(di)或扩散层发作结晶缺(que)陷，晶体管的(de)电路阈值奇(qi)妙地偏(pian)离，器件制造时附着(zhe)上灰尘(chen)、人的(de)汗或唾液(ye)，随着(zhe)时间(jian)推移(yi)惹(re)起性(xing)能(neng)失效(xiao)等，都是(shi)早期失效(xiao)的(de)缘由(you)。

早期(qi)失(shi)(shi)效经过停(ting)止老(lao)化或(huo)者高温通电状(zhuang)态的牢(lao)靠性加速实(shi)验（～168小时(shi)）能够降低。出(chu)厂检查时(shi)或(huo)者按用户请求将各种电子元(yuan)器件组(zu)装成设备出(chu)厂行(xing)进(jin)行(xing)这些检查，能够减少早期(qi)失(shi)(shi)效。

2．偶尔失效

器(qi)件的失效(xiao)形式没有(you)(you)(you)规(gui)律性，或者(zhe)说没有(you)(you)(you)连续性。呈现在失效(xiao)率很低的稳(wen)定期，要进一(yi)步降低失效(xiao)率有(you)(you)(you)艰(jian)难。有(you)(you)(you)时会由于用户的运用环境偶(ou)尔呈现器(qi)件过载惹起(qi)，要辨别失效(xiao)缘由有(you)(you)(you)艰(jian)难。处理方法是确保器(qi)件本身(shen)设(she)计(ji)(ji)的坚韧性（巩(gong)固性，设(she)计(ji)(ji)规(gui)则上留(liu)有(you)(you)(you)一(yi)定的余(yu)量）。

但是要(yao)进步坚韧性就要(yao)增大(da)芯(xin)(xin)片尺寸。从集(ji)成化（芯(xin)(xin)片尺寸）／成本(ben)的角度看是不(bu)利的。

3．耗损失效

相(xiang)当于器件(jian)的(de)(de)寿(shou)命(ming)(ming)。设(she)计的(de)(de)坚韧性(xing)影响(xiang)很大。半导体产(chan)品(pin)假(jia)如在四周环境（温度、湿度等）以及电学(xue)特性(xing)额定值以内运用的(de)(de)话，寿(shou)命(ming)(ming)应该(gai)在10年以上。

定(ding)制产品或特定(ding)用(yong)(yong)处的ASSP(Application Specific Standard Product，专用(yong)(yong)定(ding)制产品)中(zhong)，往往是厂家(jia)与用(yong)(yong)户意见一致(zhi)地决定(ding)器(qi)件(jian)可靠性(xing)水平的目(mu)标值。

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