ic芯(xin)片用途(tu)及作用-ic芯(xin)片的分类(lei)-如何判断ic芯(xin)片的好坏-KIA MOS管
信息来源:本(ben)站 日期:2019-09-12
本文讲ic芯片(pian)(pian)用途是什(shen)么?什(shen)么是ic芯片(pian)(pian)?如何(he)判断ic芯片(pian)(pian)的好坏?IC芯片(pian)(pian)(Integrated Circuit Chip)是将大量的微(wei)电子(zi)元器件(晶体管、电阻(zu)、电容等)形成的集成电路(lu)放在(zai)一(yi)块塑基上,做(zuo)成一(yi)块芯片(pian)(pian)。IC芯片(pian)(pian)包含(han)晶圆(yuan)芯片(pian)(pian)和封装(zhuang)芯片(pian)(pian),相应 IC 芯片(pian)(pian)生产线由晶圆(yuan)生产线和封装(zhuang)生产线两部分组成。
ic芯片的产品分(fen)(fen)类(lei)(lei)可以(yi)有下面分(fen)(fen)类(lei)(lei)方法:
(一)集成电路的种类一般是以内含晶体管等电子组件的数量来分类
SSI(小型集成电路),晶体管数(shu)10~100个(ge)
MSI(中(zhong)型集成电路),晶体管数100~1000个
LSI(大规模集成电路),晶体管数1000~100000
VLSI(超大规模集成电路),晶体(ti)管数100000以(yi)上。
(二)按功能结构分类
集成电路(lu)按其功能、结构的不同,可以(yi)分(fen)为模拟集成电路(lu)和数(shu)字(zi)集成电路(lu)两大类。
(三)按制作工艺分类
集成(cheng)电(dian)(dian)路按制作工艺可分为(wei)半(ban)导体集成(cheng)电(dian)(dian)路和膜(mo)(mo)集成(cheng)电(dian)(dian)路。膜(mo)(mo)集成(cheng)电(dian)(dian)路又分类(lei)厚膜(mo)(mo)集成(cheng)电(dian)(dian)路和薄(bo)膜(mo)(mo)集成(cheng)电(dian)(dian)路。
(四)按导电类型不同分类
集(ji)(ji)(ji)成电路按(an)导电类(lei)型(xing)可分为双极型(xing)集(ji)(ji)(ji)成电路和(he)单极型(xing)集(ji)(ji)(ji)成电路。双极型(xing)集(ji)(ji)(ji)成电路的制(zhi)作工(gong)艺复杂(za),功耗较(jiao)大(da),代表集(ji)(ji)(ji)成电路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等类(lei)型(xing)。
单极(ji)型集(ji)成电(dian)路的制(zhi)(zhi)作工艺简(jian)单,功(gong)耗也较低,易(yi)于(yu)制(zhi)(zhi)成大规(gui)模集(ji)成电(dian)路,代(dai)表(biao)集(ji)成电(dian)路有(you)CMOS、NMOS、PMOS等(deng)类型。
(五)按ic芯片用途分类
集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)按(an)用(yong)(yong)(yong)途可分为电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)视(shi)机(ji)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)。音响用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、影碟机(ji)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、录像机(ji)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)脑(微机(ji))用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子琴(qin)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、通信用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、照相机(ji)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、遥控(kong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、语言集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)、报(bao)警(jing)器(qi)用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)及各种专用(yong)(yong)(yong)集(ji)(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)。
集成电(dian)路(lu)(lu)的(de)诞生,小规模的(de)集成电(dian)路(lu)(lu)使内容元器件的(de)数量减少(shao),在零散元器件上有了很大的(de)技(ji)术提高。
将元(yuan)器(qi)件都集合到了一(yi)起(qi),不仅减少(shao)了外电(dian)信号的(de)干扰,也在电(dian)路(lu)设(she)计方面有了很大的(de)提升,提高(gao)了运行速度。
一(yi)(yi)种功能对(dui)应(ying)(ying)一(yi)(yi)种电(dian)路(lu)(lu),将一(yi)(yi)种功能集(ji)中(zhong)(zhong)成(cheng)一(yi)(yi)个集(ji)成(cheng)电(dian)路(lu)(lu),如此一(yi)(yi)来,在以后应(ying)(ying)用(yong)中(zhong)(zhong),要什么功能就可以应(ying)(ying)用(yong)相(xiang)应(ying)(ying)的集(ji)成(cheng)电(dian)路(lu)(lu),从而大大方便(bian)了应(ying)(ying)用(yong)。
集成电(dian)(dian)路(lu)(lu)是一(yi)种微(wei)型(xing)电(dian)(dian)子器件(jian)或(huo)部件(jian)。采用一(yi)定的(de)工艺(yi),把一(yi)个(ge)(ge)电(dian)(dian)路(lu)(lu)中(zhong)所(suo)(suo)需的(de)晶(jing)体(ti)管(guan)(guan)、二极管(guan)(guan)、电(dian)(dian)阻、电(dian)(dian)容和电(dian)(dian)感等元(yuan)件(jian)及(ji)布线互连一(yi)起,制(zhi)作在(zai)一(yi)小块(kuai)或(huo)几小块(kuai)半导体(ti)晶(jing)片(pian)或(huo)介质基片(pian)上(shang),然后封(feng)装(zhuang)在(zai)一(yi)个(ge)(ge)管(guan)(guan)壳内(nei),成为(wei)具有所(suo)(suo)需电(dian)(dian)路(lu)(lu)功能的(de)微(wei)型(xing)结(jie)构;其(qi)中(zhong)所(suo)(suo)有元(yuan)件(jian)在(zai)结(jie)构上(shang)已组成一(yi)个(ge)(ge)整体(ti),使电(dian)(dian)子元(yuan)件(jian)向着微(wei)小型(xing)化、低功耗和高可靠性方面迈(mai)进了一(yi)大步。它的(de)英文(wen)(integrated circuit)用字(zi)母“IC”表示(shi)。集成电(dian)(dian)路(lu)(lu)技(ji)(ji)术(shu)包括芯(xin)片(pian)制(zhi)造技(ji)(ji)术(shu)与设(she)(she)计技(ji)(ji)术(shu),主要(yao)体(ti)现(xian)在(zai)加工设(she)(she)备,加工工艺(yi),封(feng)装(zhuang)测试,批量生产及(ji)设(she)(she)计创新的(de)能力上(shang)。
一、不在路检测
这种(zhong)方法是在ic未焊入电路时进(jin)行的,一般情况下可(ke)用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反(fan)向(xiang)电阻(zu)值,并和完好(hao)的ic进(jin)行比(bi)较。
二、在路检测
这是(shi)一种通过万用(yong)表检(jian)测IC各引脚在(zai)路(IC在(zai)电路中)直(zhi)(zhi)流(liu)电阻、对地(di)交(jiao)直(zhi)(zhi)流(liu)电压以及(ji)总工作(zuo)电流(liu)的(de)检(jian)测方(fang)法。这种方(fang)法克服了代换试(shi)验(yan)法需要有可代换IC的(de)局限(xian)性和拆卸(xie)IC的(de)麻(ma)烦,是(shi)检(jian)测IC最(zui)常用(yong)和实用(yong)的(de)方(fang)法。
直流工作电压测量
这是(shi)一种在通电(dian)(dian)情况下(xia),用(yong)万(wan)用(yong)表直(zhi)流(liu)(liu)(liu)电(dian)(dian)压(ya)挡对直(zhi)流(liu)(liu)(liu)供电(dian)(dian)电(dian)(dian)压(ya)、外围元(yuan)件的工作(zuo)电(dian)(dian)压(ya)进行测(ce)(ce)量(liang);检测(ce)(ce)IC各引脚对地直(zhi)流(liu)(liu)(liu)电(dian)(dian)压(ya)值,并与(yu)正常(chang)值相比较,进而压(ya)缩(suo)故障范围, 出损(sun)坏的元(yuan)件。测(ce)(ce)量(liang)时要注意以(yi)下(xia)8点:
(1)万用表要有足够大(da)的内阻(zu), 少要大(da)于被测电路(lu)电阻(zu)的10倍以上,以免(mian)造成(cheng)较大(da)的测量误差。
(2)通常把各电(dian)位器(qi)(qi)旋到中(zhong)间位置,如果是电(dian)视机,信(xin)号源(yuan)要采用标准彩条信(xin)号发(fa)生(sheng)器(qi)(qi)。
(3)表(biao)(biao)笔或探头要采取(qu)防滑(hua)措(cuo)施。因(yin)任何瞬间短路都(dou)容(rong)易损(sun)坏(huai)IC。可采取(qu)如下方法防止表(biao)(biao)笔滑(hua)动:取(qu)一段(duan)自(zi)行(xing)车用气门芯套在表(biao)(biao)笔尖(jian)(jian)上,并(bing)长出表(biao)(biao)笔尖(jian)(jian)约0.5mm左右,这既(ji)能使表(biao)(biao)笔尖(jian)(jian)良好地(di)与被测(ce)试点接触,又能有效(xiao)防止打(da)滑(hua),即使碰上邻近(jin)点也不会短路。
(4)当测得某一引脚(jiao)电(dian)压(ya)与(yu)正常(chang)值不符时,应根据该引脚(jiao)电(dian)压(ya)对ic正常(chang)工(gong)作有无重要影响以及其(qi)他引脚(jiao)电(dian)压(ya)的(de)相应变化进行分(fen)析, 能判断ic的(de)好坏。
(5)ic引脚电(dian)压会受(shou)外围(wei)元器件影响。当外围(wei)元器件发生漏(lou)电(dian)、短路、开路或变值时,或外围(wei)电(dian)路连接的是一个(ge)阻值可变的电(dian)位器,则电(dian)位器滑动臂所(suo)处的位置不同,都会使引脚电(dian)压发生变化(hua)。
(6)若(ruo)(ruo)ic各引脚(jiao)电压正常(chang)(chang),则(ze)一(yi)般(ban)认为ic正常(chang)(chang);若(ruo)(ruo)ic部分引脚(jiao)电压异常(chang)(chang),则(ze)应从偏离正常(chang)(chang)值最大处入手,检(jian)查外(wai)围元件有无故障,若(ruo)(ruo)无故障,则(ze)ic很可能损坏。
(7)对于动态接收装置(zhi),如电(dian)视机(ji),在有无信(xin)号时(shi),ic各引脚电(dian)压是不同的(de)(de)。如发(fa)现引脚电(dian)压不该(gai)变(bian)化(hua)的(de)(de)反而(er)变(bian)化(hua)大,该(gai)随信(xin)号大小和(he)可调(diao)元件不同位置(zhi)而(er)变(bian)化(hua)的(de)(de)反而(er)不变(bian)化(hua),就可确定ic损坏。
(8)对(dui)于(yu)多种(zhong)工作方(fang)(fang)式的装置,如录像机,在(zai)不(bu)同工作方(fang)(fang)式下,ic各引脚(jiao)电压也是不(bu)同的。
交流工作电压测量法
为了掌握ic交(jiao)(jiao)流信号的变化情(qing)况,可以(yi)用带有db插孔的万用表对ic的交(jiao)(jiao)流工作(zuo)电(dian)(dian)压进行近似(si)测(ce)(ce)量。检测(ce)(ce)时(shi)万用表置于(yu)交(jiao)(jiao)流电(dian)(dian)压挡,正(zheng)表笔插入db插孔;对于(yu)无db插孔的万用表,需要在(zai)正(zheng)表笔串接一(yi)只(zhi)0.1~0.5μf隔直电(dian)(dian)容。该法适用于(yu)工作(zuo)频(pin)率较低的ic,如电(dian)(dian)视机的视频(pin)放大级、场扫描电(dian)(dian)路等。由于(yu)这些电(dian)(dian)路的固有频(pin)率不(bu)同(tong),波形不(bu)同(tong),所以(yi)所测(ce)(ce)的数据是(shi)近似(si)值,只(zhi)能供参考。
总电流测量法
该法(fa)是通过检测(ce)IC电源进线(xian)的(de)(de)总电流(liu),来判IC好坏(huai)(huai)的(de)(de)一种(zhong)方法(fa)。由于IC内部绝大多数为直接耦(ou)合,IC损坏(huai)(huai)时(如某一个pn结击(ji)穿(chuan)或(huo)开(kai)路)会引起后级饱和与(yu)截止,使总电流(liu)发生变化。所以(yi)通过测(ce)量总电流(liu)的(de)(de)方法(fa)可(ke)以(yi)判IC的(de)(de)好坏(huai)(huai)。也可(ke)用(yong)测(ce)量电源通路中(zhong)电阻的(de)(de)电压(ya)降,用(yong)欧姆定(ding)律计算出总电流(liu)值(zhi)。
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